Thick 8000x射線光譜分析儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型鍍層光譜分析儀器。主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
 

儀器配置       

1    硬件：主機壹臺，含下列主要部件： 

(1)   X光管                 (2) 半導體探測器

(3) 放大電路                (4) 高精度樣品移動平臺

(5) 高清晰攝像頭            (6) 高壓系統(tǒng)

(7) 上照、開放式樣品腔      (8）雙激光定位

(9) 玻璃屏蔽罩

2   軟件：天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0

參數規(guī)格

1．分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）； 
2.同時檢測元素：zui多24個元素，多達5層鍍層；
3.分析含量：一般為2ppm到99.9%；
4.鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）；
5.SDD探測器：分辨率低至135eV；
6.良好的微孔準直技術：zui小孔徑達0.1mm,zui小光斑達0.1mm；
7.樣品觀察：配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭； 
8.準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合； 
9.儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；
10.樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm；
11.樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm；
12.X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s；
13.X/Y/Z平臺重復定位精度：小于0.1um；

x射線光譜分析儀性能特點

1.精密的三維移動平臺； 
2.的樣品觀測系統(tǒng)； 
3.良好的圖像識別； 
4.輕松實現深槽樣品的檢測； 
5.四種微孔聚焦準直器，自動切換； 
6.雙重保護措施，實現無縫防撞； 
7.采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度。

x射線光譜分析儀安裝要求：

1   環(huán)境溫度要求：15℃-30℃

2   環(huán)境相對濕度：<70%

3   工作電源：交流220±5V

4   周圍不能有強電磁干擾。

廠家介紹

江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產ROHS測試儀，液相色譜質譜儀（LCMS）,原子熒光光譜儀，x射線測厚儀，ROHS檢測設備，X射線鍍層測厚儀，氣相色譜儀，ROHS檢測儀，液相色譜儀，手持式礦石分析儀，原子吸收光譜儀，X射線熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀，氣相色譜質譜聯用儀（GCMS）, ROHS儀器，手持式合金分析儀等分析儀器，涉及的儀器設備主要有Thick 8000、Thick800A、EDX600、AAS 9000、AAS 8000等。

天瑞儀器成立于1992 年，以研究、生產、銷售X 熒光光譜分析儀起步，目前從事以光譜儀、色譜儀、質譜儀為主的分析儀器及應用軟件的研發(fā)、生產、銷售和相關技術服務，是國內在創(chuàng)業(yè)板上市的分析儀器企業(yè)。公司產品主要應用于環(huán)境保護與安全（空氣、土壤、水質污染檢測等）、礦產與資源（地質、采礦）、商品檢驗甚至人體微量元素的檢驗等眾多領域。