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          武漢普賽斯儀表有限公司>>電子儀器儀表>>半導體測試儀>> S100/S200/S300第三代半導體電性能測試用源表

          第三代半導體電性能測試用源表

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          參考價 面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準
          • 型號 S100/S200/S300
          • 品牌 其他品牌
          • 廠商性質 生產(chǎn)商
          • 所在地 武漢市
          在線詢價 收藏產(chǎn)品

          更新時間:2024-05-07 17:13:40瀏覽次數(shù):762

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          產(chǎn)品簡介

          產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 2萬-5萬
          應用領域 醫(yī)療衛(wèi)生,電子,航天,電氣 產(chǎn)品尺寸 425*255*106mm
          產(chǎn)品重量 5KG 測試范圍 0.3mV-300V/100nA-1A
          第三代半導體電性能測試用源表支持四象限工作,源和負載;電壓及電流范圍廣,最小電流分辨率10pA,電流100pA~1A,電壓0.3mV~300V,準確度為0.1%;

          詳細介紹

          第三代半導體電性能測試用源表支持四象限工作,源和負載;電壓及電流范圍廣,最小電流分辨率10pA,電流100pA~1A,電壓0.3mV~300V,準確度為0.1%;5寸觸摸顯示屏圖形化操作,內(nèi)置強大的功能軟件,加速用戶完成測試;支持多種通訊方式,RS-232、GPIB及以太網(wǎng);   

          源表突出特點:使用一臺儀器進行多種測量;

          應用領域:

          分立半導體器件特性測試,電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC、GaN等器件;

          能量與效率特性測試,LED/AMOLED、太陽能電池、電池、DC-DC轉換器等

          傳感器特性測試,電阻率、霍爾效應等

          有機材料特性測試,電子墨水、印刷電子技術等

          納米材料特性測試,石墨烯、納米線等

          測試功能:

          微電路

          1

          晶圓

          L-IV測試,輸入曲線、輸出曲線

          2

          芯片

          L-IV測試,輸入曲線、輸出曲線

          器件

          1

          二極管

          正向導通電壓、正向電流、反向擊穿電壓、反向漏電流

          2

          三極管

          L-IV測試,輸入曲線、輸出曲線

          3

          MOSFET

          L-IV測試,輸入曲線、輸出曲線

          4

          IGBT

          L-IV測試,輸出曲線、轉移曲線

          5

          晶閘管

          正向電壓電流曲線、反向電壓電流曲線、觸發(fā)特性

          電池

          1

          鋰電池

          IV測試,充放電掃描曲線

          2

          光伏電池

          IV測試,放電掃描曲線

          材料

          1

          石墨烯

          IV測試、輸入曲線、輸出曲線

          2

          納米線

          IV測試、輸入曲線、輸出曲線

             

          S系列源表特點:

          1. 5寸800*480觸摸顯示屏,全圖形化操作            

          2. 內(nèi)置強大的功能軟件,加速用戶完成測試,如LIV、PIV

          3. 源及測量的準確度為0.1%,分辨率5位半

          4. 四象限工作(源和肼),源及測量范圍:高至300V,低至10pA

          5. 豐富的掃描模式,支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描

          6. 支持USB存儲,一鍵導出測試報告

          7. 支持多種通訊方式,RS-232、GPIB及以太網(wǎng)  



          應用優(yōu)勢:

          1、 多功能測量需求下的廣泛的適應性,電壓高300V,電流低至100pA;

          2、 實現(xiàn)“源"的輸出和“表"的測量同步進行,提高測試效率。

          3 具備對測試器件的保護功能,可進行自我限制,避免因過充而造成的對測試器件的損害;

          精確的電壓電流限制功能,為器件提供完善的保護功能,避免器件損壞。

          4、 觸屏圖形化操作,使用簡單。開放式平臺,可根據(jù)實際應用的需求而針對性的開發(fā)軟件。


          國產(chǎn)優(yōu)勢

          1、自主研發(fā),符合大環(huán)境下國內(nèi)技術自給的需求;

          2、性價比高;

          3、及時與客戶溝通,為客戶提供高性價比系統(tǒng)解決方案。及時指導客戶編程,速測試系統(tǒng)開發(fā)。


          更多有關第三代半導體電性能測試用源表的信息找武漢生產(chǎn)廠家普賽斯儀表

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