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氬離子研磨系統(tǒng) 參考價(jià):面議
CleanMill氬離子研磨系統(tǒng)為電池樣品SEM表征提供高質(zhì)量的制樣方案,傳統(tǒng)的機(jī)械研磨方式制備樣品斷面,斷面不可避免的存在機(jī)械損傷和磨料嵌入樣品引起的污染。使...ALT327 impact-freezer 沖撞冷凍制樣 參考價(jià):面議
ALT327 impact-freezer 沖撞冷凍制樣,為 ALTO 冷凍掃描電鏡系統(tǒng)而設(shè)計(jì)的撞擊式冷凍制樣設(shè)備,提供了樣品載體和樣品載臺,它們可以放置在 A...Gatan氬離子拋光系統(tǒng)Ilion II 697 參考價(jià):面議
Gatan氬離子拋光系統(tǒng)Ilion II 697,可利用IlionII進(jìn)行拋光加工的材料種類十分廣泛,包括由多元素組成的試樣,以及具有不同的機(jī)械硬度、尺寸和物理...SOLARUS (955)Plasma等離子清洗儀 參考價(jià):面議
SOLARUS (955)Plasma等離子清洗儀,去除碳?xì)浠衔飳EM和SEM樣品臺或樣品的污染,*的清洗解決方案,它利用等離子配方,對于所有的樣品,包括H...BRIGHT KAS-2000F離子濺射儀 參考價(jià):面議
BRIGHT KAS-2000F離子濺射儀,針對SEM/TEM開發(fā)出的產(chǎn)品,它可以對不導(dǎo)電樣品進(jìn)行噴鍍,使導(dǎo)電性不理想的樣品也能夠在SEM/TEM中進(jìn)行觀測。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)