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微觀力學(xué)原位測試儀
拉伸原位測試儀（2N—5000N）
可集成在多種成像設(shè)備下（SEM、金相顯微鏡等），對試樣施加載荷作用，在納米尺度下全程動態(tài)監(jiān)測材料的微觀變形、損傷過程。為深入研究各類材料及其制品的微觀力學(xué)行為和損傷機理提供理論依據(jù)。
原位測試儀可在SEM真空腔內(nèi)對材料拉伸/壓縮、彎曲、壓痕/劃痕等試驗，在研究材料的機械性能領(lǐng)域扮演著重要的角色。借助于SEM超景深、大視野、高分辨率的成像能力，可深度分析材料微觀損傷機制，實時監(jiān)測材料微觀變形損傷過程，在材料科學(xué)研究領(lǐng)域具有*的使用價值。
在計算機軟件控制下，可顯示試驗力-時間曲線、試驗力、試驗力峰值、具有明顯屈服特征材料的屈服力，實驗數(shù)據(jù)方便直觀。
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