介電常數(shù)自動(dòng)介質(zhì)損耗測(cè)試儀性能特點(diǎn)◎ 全自動(dòng)一鍵操作可自動(dòng)掃描最平穩(wěn)的量程階段◎微電腦處理器反應(yīng)迅速可在最短時(shí)間內(nèi)計(jì)算出最佳頻段
◎ 夾具數(shù)字顯示◎ 4.3寸TFT液晶顯示◎ 中英文可選操作界面
◎ 最高2MHz的測(cè)試頻率,10mHz分辨率
◎ 平衡測(cè)試功能◎ 變壓器參數(shù)測(cè)試功能
◎ 最高測(cè)試速度:13ms/次
◎ 電壓或電流的自動(dòng)電平調(diào)整(ALC)功能
◎ V、I 測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能
◎ 內(nèi)部自帶直流偏置源
◎ 可外接大電流直流偏置源
◎ 10點(diǎn)列表掃描測(cè)試功能
◎ 30Ω、50Ω、100Ω可選內(nèi)阻
◎ 內(nèi)建比較器,10檔分選和計(jì)數(shù)功能
◎ 內(nèi)部文件存儲(chǔ)和外部U盤(pán)文件保存
◎ 測(cè)量數(shù)據(jù)可直接保存到U盤(pán)
◎ RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口
◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示,保證了ε和D值精度和重復(fù)性。
◎ 介電常數(shù)測(cè)量范圍可達(dá)1~105
主要技術(shù)指標(biāo):
ε和D性能:
固體絕緣材料測(cè)試頻率20Hz~2MHz的ε和D變化的測(cè)試。ε和D測(cè)量范圍:ε:1~105,D:0.1~0.00005,
ε和D測(cè)量精度(10kHz):ε:±2% , D:±5%±0.0001。
測(cè)試參數(shù) :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
測(cè)試頻率 :20 Hz~2MHz,10mHz步進(jìn)
測(cè)試信號(hào)電:f≤1MHz 10mV~5V,±(10%+10mV)
平 :f>1MHz 10mV~1V,±(20%+10mV)
輸出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本準(zhǔn)確度 ;0.1%
顯示范圍 :
L 0.0001 uH ~ 9.9999kH
C :0.0001 pF ~ 9.9999F
R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ
Y, B, G 0.0001 nS ~ 99.999 S
D :0.0001 ~ 9.9999
Q :0.0001 ~ 99999
θ :-179.99°~ 179.99°
測(cè)量速度 ;快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz)
中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校準(zhǔn)功能 :開(kāi)路 / 短路點(diǎn)頻、掃頻清零,負(fù)載校準(zhǔn)
等效方式 :串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式
量程方式:自動(dòng), 保持
顯示方式 :直讀, Δ, Δ%
觸發(fā)方式 :內(nèi)部, 手動(dòng), 外部, 總線
內(nèi)部直流偏 :電壓模式-5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn)
置源 :電流模式(內(nèi)阻為50Ω)-100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn)
比較器功能:10檔分選及計(jì)數(shù)功能
顯示器;320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示
存儲(chǔ)器 :可保存20組儀器設(shè)定值
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB(選件)
工作頻率范圍:20Hz~2MHz 數(shù)字合成,
精度:±0.02%
電容測(cè)量范圍:0.00001pF~9.99999F 六位數(shù)顯
電容測(cè)量基本誤差:±0.05%
損耗因素D值范圍:0.00001~9.99999 六位數(shù)顯
介電常數(shù)測(cè)試裝置(含保護(hù)電極): 精密介電常數(shù)測(cè)試裝置提供測(cè)試電極,能對(duì)直徑φ10~56mm,厚度<10mm的試樣精確測(cè)量。
它針對(duì)不同試樣可設(shè)置為接觸電極法,薄膜電極法和非接觸法三種,以適應(yīng)軟材料,表面不平整和薄膜試樣測(cè)試。
微分頭分辨率:10μm
最高耐壓:±42Vp(AC+DC)
電纜長(zhǎng)度設(shè)置:1m
最高使用頻率:30MHz
高頻介質(zhì)樣品(選購(gòu)件): 在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,檢定部門(mén)為高頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x提供的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。該樣品由人工藍(lán)寶石,石英玻璃, 氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測(cè)試樣品。用戶可按需訂購(gòu),以保證測(cè)試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。
介電常數(shù)自動(dòng)介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)試數(shù)據(jù)打印。測(cè)試完畢之后,在測(cè)試結(jié)果界面下,用觸屏筆或手指點(diǎn)擊“打印"按 鈕,會(huì)將測(cè)試數(shù)據(jù)打印出來(lái)。測(cè)試。打印數(shù)據(jù)或存儲(chǔ)數(shù)據(jù)完畢,用觸屏筆或手指點(diǎn)擊“退出"按鈕,儀器會(huì)返回初始開(kāi)機(jī)界面。