詳細(xì)介紹
雙軸測量系統(tǒng)200MPA
雙軸測量系統(tǒng)200MPA
雙軸運(yùn)動(dòng)測量
的雙軸測量系統(tǒng)模型200MPA測量一個(gè)目標(biāo)在兩個(gè)正交軸的線性位移。測量范圍和距離取決于所使用的單個(gè)鏡頭。測量范圍從100 mm x 100 mm到1500 mm x 1500 mm。測量距離可達(dá)200?? m。
200 MPA的其他特性
- 測量目標(biāo)在2個(gè)正交軸上的線性位移
- 分辨率:x和y為1:16000
- 同時(shí)測量
- 掃描速度:1000 / s
- 內(nèi)置查看器允許在很短的時(shí)間內(nèi)進(jìn)行設(shè)置
- 堅(jiān)固的系統(tǒng);使用固態(tài)技術(shù)
- 操作員無需執(zhí)行任何校準(zhǔn)
- 數(shù)據(jù)輸出X,Y:模擬+/- 10V
- 借助可選的自動(dòng)準(zhǔn)直儀適配器和特殊鏡頭,它可以測量前視鏡在兩個(gè)軸上的角運(yùn)動(dòng)。
雙軸測量系統(tǒng)200MPA
引伸計(jì)概述
引伸計(jì)是一種在材料測試(例如拉伸測試)過程中測量材料樣品應(yīng)變的儀器。原則上,引伸計(jì)有兩種類型:接觸式和非接觸式。接觸測量可以通過夾式引伸計(jì)進(jìn)行;這種儀器具有至少兩個(gè)機(jī)械地連接到樣本的邊緣。拉伸樣本會(huì)導(dǎo)致邊緣之間的距離變長,這與樣本長度的變化相對(duì)應(yīng)。
對(duì)于非接觸式測量,使用模擬或數(shù)字光學(xué)引伸計(jì)。為了測量材料樣品上的應(yīng)變,樣品通常帶有黑白標(biāo)記。引伸計(jì)內(nèi)的傳感器檢測標(biāo)記的運(yùn)動(dòng),從而檢測拉伸試驗(yàn)期間長度的變化。有引伸計(jì),即使材料樣品溫度非常高(高達(dá)3000°C),它們也能夠測量非??斓膽?yīng)變(> 100 m / s)。
在拉伸試驗(yàn)中,非接觸式測量裝置是有利的。通常可以將它們?cè)O(shè)置在距樣品一定距離的位置,以防止樣品的飛散碎片損壞測量儀器。因此,光學(xué)引伸計(jì)也適用于破壞性材料測試期間的測量。
H.-D. Rudolph GmbH提供各種類型的光學(xué)引伸計(jì):
- 引伸計(jì)200XR可進(jìn)行高達(dá)500 kHz的非??焖俚臏y試
- CMOS線掃描傳感器ZS64A5K每秒可實(shí)現(xiàn)1:64000和4673測量的高分辨率
- 線掃描傳感器ZS16A分別是速度更快的版本ZS16AHS,可實(shí)現(xiàn)1:16000的高分辨率和高穩(wěn)定性
- 引伸計(jì)ZS32和ZS32HS分別具有1:32000的分辨率