美國(guó)GGB探針簡(jiǎn)介：

  GGB ST系列硬針   (鎢材質(zhì) ，常用款，推薦)

   ST系列硬針是 0.020 inch (0.51mm) 直徑鎢材質(zhì)針桿經(jīng)過(guò)精密電化學(xué)加工成為不同的針尖直徑  ，長(zhǎng)度為  1.5inch(38.1mm)的探針。    這 種探 針應(yīng)用與絕大多數(shù)的芯片電極點(diǎn)測(cè)和線路點(diǎn)測(cè)。    ST系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。    該探針可以選擇表面鍍鎳， 如果選擇 鍍鎳則型號(hào)后面增加   “NP"。

ST系列硬針規(guī)格

ST系列探針尺寸圖

ST系列探針實(shí)物

   GGB T-4 系列軟針   (鎢材質(zhì))

•T-4 系列軟針較多的應(yīng)用于點(diǎn)測(cè)集成電路的線路 ，電極 ，或者  FIB(聚焦離子束) 制作的 mini 電極。

•T-4 系列軟針的結(jié)構(gòu)采用不同直徑鎢材質(zhì)針須焊接于鍍錫的銅材質(zhì)針桿上。

•其中 T-4-10 和 T-4-22 兩款是客戶(hù)反饋比較有優(yōu)勢(shì)的型號(hào) ，因?yàn)槠溽橅氈?/span>徑較細(xì)  ，具有良好的彎曲彈性  ，能夠極大的減少對(duì)芯片電極 的損害  ，在部分震動(dòng)環(huán)境下面也能夠保證和電極的良好接觸。

T-4 系列硬針規(guī)格

C.        GGB 高性能微波探頭  (可提供無(wú)磁款)

常用Model 40A系列

產(chǎn)品特點(diǎn)：

( 1)   測(cè)試頻率范圍：      DC to 40 GHz

( 2)   輸入衰減   ≤ 0.8db

( 3)   反射損耗≧ 18 db

(4)   腳間距:25 to 2540um可選  (腳間距越大  ，    損耗越嚴(yán)重)

( 5)   測(cè)試重復(fù)性?xún)?yōu)于-80db

( 6)   單獨(dú)彈簧加載觸點(diǎn)設(shè)計(jì)

( 7)   材質(zhì)：      BeCu , TungQRen or Nickel tips available

( 8)     GSG  ，    SG  ，    SG  ，    GSGSG 等可選

( 9)   同軸設(shè)計(jì)

S12 與 S11 實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)  (插損和回?fù)p)

 產(chǎn)品選型：

Example：    40A-GSG-150-P 代表頻率最高到 40G ，GSG 三個(gè)端口 ，其中G與S之間的腳間距是150um ，外形是  P 型。 Model 40-  (端口)  -  (間距)  -  (外形)

備注：在磁場(chǎng)中 ，一般選用無(wú)磁款。

QRyle 風(fēng)格：       (特殊要求，可以客制化)

D.   GGB 12C有源探頭

•輸入電容0.1pf

•輸入電阻1.0兆歐

•工作電壓范圍 -10 to +20V

•帶寬dc to 500 MHz

• 12C夾具替換用探針  ( 12C-x-xx)

•射頻探針夾具源 ，可以同時(shí)支持兩個(gè)探頭使用  ( PS-2)

美國(guó)APT開(kāi)爾文探針

電學(xué)特點(diǎn)：

Current leakage: < 10 fA   (漏電精度高)

Frequency: > 150 MHz       (測(cè)試頻率高)

Capacitance (Guarded): < 10 fF

Impedance: 50 Ohm

Power Handling: > 125 Watts @ 18-21 Deg. C

Voltage Rating: > 250 Volts RMS @ sea level

備注：

APT開(kāi)爾文探針適用于四線法測(cè)試 ，以減小線阻和接觸電阻對(duì)測(cè)試的影響 ，保證小電阻的測(cè)試準(zhǔn)確性。

另外 ，一些高頻測(cè)試 ，比如150M左右 ，也可以采用這個(gè)。