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          行業(yè)產(chǎn)品

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          [供應(yīng)]美國(guó)GGB探針
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          • 美國(guó)GGB探針
          貨物所在地:
          上海上海市
          產(chǎn)地:
          上海
          更新時(shí)間:
          2024-08-12 21:00:06
          有效期:
          2024年8月12日 -- 2025年2月12日
          已獲點(diǎn)擊:
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          產(chǎn)品簡(jiǎn)介

          美國(guó)GGB探針: ST系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。 該探針可以選擇表面鍍鎳, 如果選擇 鍍鎳則型號(hào)后面增加 “NP"。

          詳細(xì)介紹

          美國(guó)GGB探針簡(jiǎn)介:

           GGB ST系列硬針   (鎢材質(zhì) ,常用款,推薦)

            ST系列硬針是 0.020 inch (0.51mm) 直徑鎢材質(zhì)針桿經(jīng)過(guò)精密電化學(xué)加工成為不同的針尖直徑  ,長(zhǎng)度為  1.5inch(38.1mm)的探針。    這 種探 針應(yīng)用與絕大多數(shù)的芯片電極點(diǎn)測(cè)和線路點(diǎn)測(cè)。    ST系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。    該探針可以選擇表面鍍鎳, 如果選擇 鍍鎳則型號(hào)后面增加   “NP"。

          ST系列硬針規(guī)格

          型號(hào)

          桿直徑

          尖直徑

          QR-20-0.5

          0.020" (0.51mm)

          <1.0micron

          5pc/box

          ST-20-1.0

          0.020" (0.51mm)

          <2.0 micron

          5pc/box

          ST-20-2.0

          0.020" (0.51mm)

          <5.0micron

          5pc/box

          ST-20-5.0

          0.020" (0.51mm)

          <10.0micron

          5pc/box

          ST-20-10.0

          0.020" (0.51mm)

          <20.0 micron

          5pc/box

          ST-20-25.0

          0.020" (0.51mm)

          <50.0 micron

          5pc/box

          ST-20-50.0

          0.020" (0.51mm)

          <100.0 micron

          5pc/box

          ST-20-100.0

          0.020" (0.51mm)

          <200.0 micron

          5pc/box

          ST系列探針尺寸

          222.png

          ST系列探針實(shí)物

            GGB T-4 系列軟針   (鎢材質(zhì))

          T-4 系列軟針較多的應(yīng)用于點(diǎn)測(cè)集成電路的線路 ,電極 ,或者  FIB(聚焦離子束) 制作的 mini 電極。

          T-4 系列軟針的結(jié)構(gòu)采用不同直徑鎢材質(zhì)針須焊接于鍍錫的銅材質(zhì)針桿上。

          •其中 T-4-10 和 T-4-22 兩款是客戶反饋比較有優(yōu)勢(shì)的型號(hào) ,因?yàn)槠溽橅氈?/span>徑較細(xì)  ,具有良好的彎曲彈性  ,能夠極大的減少對(duì)芯片電極 的損害  ,在部分震動(dòng)環(huán)境下面也能夠保證和電極的良好接觸。

          T-4 系列硬針規(guī)格

          型號(hào)

          鎢材質(zhì)針須直徑

          尖直徑

          須長(zhǎng)度

          T-4-5

          5 micron

          <0.2micron

          0.13" (3.3mm)

          5pc/box

          T-4-10

          10 micron

          <0.2 micron

          0.13" (3.3mm)

          5pc/box

          T-4-22

          22 micron

          <2.0 micron

          0.20" (5.1mm)

          5pc/box

          T-4-35

          35 micron

          <4.0 microns

          0.20" (5.1mm)

          5pc/box

          T-4-60

          60 micron

          <6.0 microns

          0.20" (5.1mm)

          5pc/box

          T-4-125

          125 micron

          <10.0 microns

          0.20" (5.1mm)

          5pc/box

          C.      GGB 高性能微波探頭  (可提供無(wú)磁款)

          常用Model 40A系列

          產(chǎn)品特點(diǎn):

          ( 1)   測(cè)試頻率范圍:      DC to 40 GHz

          ( 2)   輸入衰減   ≤ 0.8db

          ( 3)   反射損耗≧ 18 db

          (4)   腳間距:25 to 2540um  (腳間距越大  ,    損耗越嚴(yán)重)

          ( 5)   測(cè)試重復(fù)性優(yōu)于-80db

          ( 6)   單獨(dú)彈簧加載觸點(diǎn)設(shè)計(jì)

          ( 7)  材質(zhì):      BeCu , TungQRen or Nickel tips available

          ( 8)    GSG  ,    SG  ,    SG  ,    GSGSG 等可選

          ( 9)   同軸設(shè)計(jì)

          S12 S11 實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)  (插損和回?fù)p)

          產(chǎn)品選型:

          Example    40A-GSG-150-P 代表頻率最高到 40G ,GSG 三個(gè)端口 ,其中G與S之間的腳間距是150um ,外形是  P 型。 Model 40-  (端口)  -  (間距)  -  (外形)

          備注:在磁場(chǎng)中 ,一般選用無(wú)磁款。


          QRyle 風(fēng)格:       (特殊要求,可以客制化)

          D.   GGB 12C有源探頭

          •輸入電容0.1pf

          •輸入電阻1.0兆歐

          •工作電壓范圍 -10 to +20V

          •帶寬dc to 500 MHz

          • 12C夾具換用探針  ( 12C-x-xx)

          •射頻探針夾具源 ,以同時(shí)支持兩個(gè)探頭使用  ( PS-2)

          美國(guó)APT開(kāi)爾文探針

          電學(xué)特點(diǎn)

          Current leakage: < 10 fA   (漏電精度高)

          Frequency: > 150 MHz       (測(cè)試頻率高)

          Capacitance (Guarded): < 10 fF

          Impedance: 50 Ohm

          Power Handling: > 125 Watts @ 18-21 Deg. C

          Voltage Rating: > 250 Volts RMS @ sea level

          注:

          APT開(kāi)爾文探針適用于四線法測(cè)試 ,以減小線阻和接觸電阻對(duì)測(cè)試的影響 ,保證小電阻的測(cè)試準(zhǔn)確性。

          另外 ,一些高頻測(cè)試 ,比如150M左右 ,也可以采用這個(gè)。



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