散亂光光彈性應(yīng)力儀SLP-2000（518nm）技術(shù)規(guī)格書

1. 設(shè)備名稱：散亂光光彈性應(yīng)力儀

2. 設(shè)備型號(hào)：SLP-2000（518nm）

3. 主要技術(shù)規(guī)格：

3.1 利用散亂光光彈性的原理來測(cè)量以往無法測(cè)量的鋰鈉離子交換的化學(xué)強(qiáng)化玻璃。

3.2 若表面附近有鉀離子層，可以與表面應(yīng)力計(jì)FSM-6000的數(shù)據(jù)進(jìn)行相結(jié)合來分析斷面的應(yīng)力分布。

3.3 應(yīng)力測(cè)量范圍：0-2000MPa

3.4 應(yīng)力測(cè)量精度：從表面起深度50um以上 ±10MPa（標(biāo)準(zhǔn)片為基準(zhǔn)）

3.5 應(yīng)力層深度測(cè)量范圍：10-600um

3.6 應(yīng)力層深度測(cè)量精度：±10um（標(biāo)準(zhǔn)片為基準(zhǔn)）

3.7 光源：LD  518±10nm   30mw   Class 3B

3.8 測(cè)量對(duì)象：化學(xué)強(qiáng)化玻璃、2段強(qiáng)化玻璃、物理強(qiáng)化玻璃

3.9 測(cè)量形狀：平面-1000R   10 x 10mm以上

3.10 三棱鏡折射率：1.518@518nm

3.11 PC：專用（OS、測(cè)量軟件安裝完成）

3.12 OS：Windows10

3.13 尺寸：W320*D280*H220mm（本體）

3.14 重量：16kg（本體）

注：不要配備打印機(jī)