SMS-1000 閃點測試儀的工作原理較為復雜，涉及多個光學和物理特性的測量原理。以下為你詳細介紹：### 閃點（Sparkle）測量原理- **原理基礎**：當顯示屏的像素矩陣和防眩光層的表面隨機微結構相互作用時，會產生類似隨機莫爾條紋的現(xiàn)象。在觀察者頭部對著顯示屏移動時，這種現(xiàn)象會變得較為明顯。SMS-1000 閃點測試儀就是通過檢測這種因結構層相互作用而產生的特殊視覺效果來評估閃點。- **具體過程**：儀器通過特定的光學系統(tǒng)和圖像采集裝置（如 CCD 相機），對顯示屏在不同條件下的圖像進行采集。當樣品（如帶有防眩光層的顯示屏）被放置在測試位置時，儀器對其進行加熱或在不同的環(huán)境條件下進行測試。隨著條件的變化，像素矩陣與防眩光層表面微結構的相互作用也會發(fā)生改變，導致產生的莫爾條紋現(xiàn)象的強度和特征發(fā)生變化。儀器通過對這些變化的監(jiān)測和分析，能夠確定在何種條件下該現(xiàn)象最為明顯或達到特定的閾值，這個對應的條件參數(shù)（如溫度等）就被認定為閃點。### 圖像清晰度（DOI；Distinctness of Image）測量原理- **定義與依據(jù)**：將圖像清晰度定義為像素圖案中每個空間頻率的調變轉換因子。其原理依據(jù)是通過評估光的散射對顯示屏上顯示圖像清晰度的影響程度，來確定圖像清晰度。因為防眩光層的微結構表面可能會造成光散射，而這種散射會降低圖像的清晰度。- **測量方式**：儀器使用特定的光學系統(tǒng)和圖像分析算法，對顯示屏上的圖像進行分析。例如，通過向顯示屏投射特定的測試圖案或圖像，然后利用相機采集經(jīng)過顯示屏后的圖像。對比原始圖像和經(jīng)過顯示屏后的圖像，分析光在通過顯示屏過程中由于微結構導致的散射情況，以及這種散射對圖像中不同空間頻率的信號（如不同精細程度的圖案或紋理）的影響程度。通過量化這種影響，得出圖像清晰度的數(shù)值，以評估防眩光層對圖像清晰度的影響。如果 DOI 值較高，說明光的散射對圖像清晰度的影響較小，顯示屏呈現(xiàn)的圖像較為清晰；反之，DOI 值較低則表示光散射較為嚴重，圖像清晰度受到較大影響。### 反射式擴散性（RDF；Reflectance Distribution Function）測量原理- **測量目的**：主要是測量通過微結構處理后的 AG 表面在鏡面反射方向將反射光造成散射的情況。這樣做的目的是為了減少顯示屏上不希望產生的直接反射圖像，因為這些直接反射圖像可能會導致眼睛不適或不利閱讀的眩光。- **工作流程**：儀器中的光源（如白光 CCFL）發(fā)出光線，照射到待測樣品（帶有防眩光層的表面）上。光線在樣品表面發(fā)生反射，其中包括鏡面反射和由于微結構導致的散射反射。儀器通過特定的光學收集系統(tǒng)（如具有一定孔徑和角度范圍的接收裝置），收集在不同角度范圍內的反射光。對于反射光的角度分布情況進行分析，就可以得到反射式擴散性的相關數(shù)據(jù)。例如，在某個特定的角度范圍內反射光的強度分布、不同角度下反射光強度的變化趨勢等。通過這些數(shù)據(jù)，可以了解防眩光層的微結構對反射光的散射特性，以及這種散射特性如何影響顯示屏在不同觀察角度下的視覺效果和眩光程度。根據(jù)測量結果，可以評估防眩光層的性能是否滿足設計要求，或者為進一步優(yōu)化防眩光層的設計提供依據(jù)。### 透射式擴散性（TDF；Transmittance Distribution Function）測量原理- **原理概述**：類似于反射光分布量測的操作模式，其測量的是 AG 鍍層的散射能力。具體是通過將狹縫產生器置于背光模塊上，讓等向性線光源照射樣品，從而得到透射光的散射分布狀況，并對透射光的角度散射分布進行分析。- **詳細過程**：首先，等向性線光源發(fā)出的光線透過背光模塊上的狹縫產生器，形成特定形狀和方向的光線照射到待測樣品（如帶有 AG 鍍層的透明材料）上。光線在穿過樣品的過程中，一部分光會按照正常的透射方向傳播，而另一部分光會由于 AG 鍍層的微結構而發(fā)生散射，形成不同角度的透射光。儀器通過位于樣品另一側的光學檢測系統(tǒng)（如具有特定接收角度范圍的探測器或相機），收集不同角度下的透射光。然后，對收集到的透射光的強度和角度分布信息進行處理和分析。例如，可以得到在不同角度下透射光的強度分布曲線，了解光在透過樣品過程中由于 AG 鍍層的微結構而產生的散射程度和方向特性。通過這些數(shù)據(jù)，可以評估 AG 鍍層對透射光的散射效果，以及這種散射效果對顯示屏在透射模式下的視覺性能（如對比度、清晰度等）的影響。這對于優(yōu)化顯示屏的設計，尤其是在需要考慮透射光特性的應用場景（如透明顯示屏、某些特殊的光學器件等）中，具有重要的意義。

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