產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 類型 | 高速LCR測(cè)量?jī)x |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天,汽車,電氣,綜合 |
高速LCR儀,采樣率可高至120MHz
100kHz~120MHz的寬頻帶
高速LCR測(cè)試(6ms/采樣)
拆卸式前置放大器可選擇
為比較標(biāo)準(zhǔn)元件提供補(bǔ)償?shù)摹柏?fù)載補(bǔ)償功能
參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間:2024-02-20 16:20:28瀏覽次數(shù):1906
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HIOKI 3535 lcr電橋測(cè)試儀
高速LCR儀,采樣率可高至120MHz
100kHz~120MHz的寬頻帶
高速LCR測(cè)試(6ms/采樣)
拆卸式前置放大器可選擇
為比較標(biāo)準(zhǔn)元件提供補(bǔ)償?shù)?ldquo;負(fù)載補(bǔ)償功能
基本參數(shù)
測(cè)量參數(shù) |Z|,|Y|,Q,Rp,Rs(ESR),G,X,B,θ,Ls,Lp,Cs,Cp,D(tanδ)
前置放大器
決定的測(cè)量量程
前置放大器 9700-01 9700-02 9700-03
Z和R 100mΩ~1kΩ 500Ω~10kΩ 5kΩ~100kΩ
C 1.33pF~15.9μF 0.133pF~3.18nF 0.1pF~318pF
L 1nH~1.59mH 663nH~15.9mH 6.63μH~159mH
θ -180.00°~180.00°
測(cè)量頻率 量程 100kHz~120MHz
分辨率設(shè)置 4位(使用前控制板設(shè)置)
100.0kHz~1.000MHz 100Hz幅度
1.000MHz~10.00MHz 1kHz幅度
10.00MHz~100.0MHz 10kHz幅度
100.0MHz~120.0MHz 100kHz幅度
使用GP-IB或RS-232C接口時(shí),分辨率為1Hz。
精度 最大±0.005%,相對(duì)于設(shè)置值
HIOKI 3522-50 lcr電橋測(cè)試儀特點(diǎn)
3522-50使用寬廣量程的測(cè)試頻率及直流來測(cè)量阻抗,以使用方便、功能完備和性價(jià)比而見長(zhǎng)
基本參數(shù)
測(cè)量參數(shù) |Z|,|Y|,θ,Rp(DCR),Rs(ESR,DCR), G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q
測(cè)量方法 測(cè)量源:恒流10μ~100mA(AC/DC),
或恒壓10mV~5V(AC/DC). 檢測(cè): 電壓,AC或DC
測(cè)量頻率 DC或者1mHz~100kHz
測(cè)量量程 |Z|,|R|,X:10.00mΩ~200.00MΩ(視條件而定)
θ:-180.00~+180.00°,C: 0.3200pF~1.0000F,
L: 16.000nH~750.00kH, D:0.00001~9.99999
Q: 0.01~999.99, |Y|,G,B: 5.0000nS~99.999S
基本精度 |Z|: ±0.08%rdg.,θ: ±0.05°
測(cè)量時(shí)間 |Z|的典型值 快速:5ms~慢速:828ms
顯示 最大顯示值99999,LCD背光功能
比較器功能 設(shè)定:上、下限值,百分比或絕值。
輸出:3檔(高,中,低),開路集電極
外部打印 9442(搭配9443/9446/9593-01)
電源供應(yīng) 100~240V,AC,50/60Hz
體積及重量 313寬×125高×290厚mm,4.5kg
附件 電源線(1),保險(xiǎn)絲(1)
LCR測(cè)試儀IM3523測(cè)量方法:連續(xù)測(cè)量不同條件
在電容的測(cè)量條件中希望以120Hz測(cè)量C-D。希望以100kHz測(cè)量ESR。這時(shí),使用1臺(tái)告訴連續(xù)測(cè)量不同條件。
LCR測(cè)試儀IM3523測(cè)量方法:順暢的進(jìn)行生產(chǎn)線的設(shè)置更改的面板讀取功能
為了使用1臺(tái)LCR測(cè)試儀測(cè)量多種產(chǎn)品,要求高效率的更改設(shè)置。
IM3523的面板保存功能更,最多保存60組測(cè)量條件,還能保存128個(gè)開路/短路補(bǔ)償和線長(zhǎng)補(bǔ)償?shù)鹊难a(bǔ)償值。使用面板功能讀取所保存的測(cè)量條件。除了手動(dòng)讀取以外,可以使用外部控制端口控制面板編號(hào)的讀取,因此能縮短構(gòu)筑自動(dòng)化檢查產(chǎn)線的時(shí)間。
可靠的產(chǎn)線檢查:接觸檢查功能
檢查4端子測(cè)量時(shí)樣品間的接觸不良。
測(cè)量LPOT?LCUR間和HPOT?HCUR間的接觸電阻,如果在所設(shè)置的閾值以上時(shí)則顯示錯(cuò)誤。
基本精度±0.05%,測(cè)量范圍廣(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)。
● 在例如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下,不間斷測(cè)試,速度是我司以往產(chǎn)品的10倍。
● 內(nèi)置的低阻抗高精度模式可有效測(cè)量低感應(yīng)或鋁電解電容的等效串聯(lián)電阻。
● (測(cè)量速度是以往產(chǎn)品3522-50的10倍,大大提高了反復(fù)性和穩(wěn)定性)
● 模式,用于測(cè)量變壓器線圈比率,互感系數(shù)和溫度補(bǔ)償DCR。
● 頻率掃描測(cè)試(僅IM3533-01)
● 除標(biāo)準(zhǔn)0m/1m以外的2m/4m電纜設(shè)置。
● 內(nèi)置比較器和BIN功能。
● 2ms的快速測(cè)試時(shí)間