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ZYGO 3D光學輪廓儀 ZeGage Pro 參考價:面議
ZYGO 3D光學輪廓儀 ZeGage Pro 可直接用于生產的三維光學輪廓儀系統。ZeGage™ Pro和 ZeGage™ Pro H...三維光學輪廓儀ContourX-100 參考價:面議
具備最高性價比的 三維光學輪廓儀ContourX-100為精確的、可重復的、非接觸式表面測量樹立了新基準。該系統占地面積小,所采用的簡化方案融合了布魯克幾十年的...三維光學輪廓儀ContourX-200 參考價:面議
三維光學輪廓儀ContourX-200提供了高級表征能力、可選定制配件、和使用方便三者的**融合,是同類產品中最快、最準確、可重復性最高的非接觸式三維表面計量系...Sensofar新型高精度3D測量系統 參考價:面議
Sensofar新型高精度3D測量系統S wide 是專用系統,適用于快速測量大樣品區(qū)域,測量面積最高可達 300 x 300 mm。它具有集成了數字顯微鏡的高...Sensofar多功能共聚焦顯微鏡S neox 參考價:10
Sensofar多功能共聚焦顯微鏡S neox全新設計的3D光學輪廓儀S neox超越傳統,將共聚焦、干涉和多焦面疊加技術融于一身,測量頭內無運動部件。Sensofar結構光3D光學輪廓儀S wide 參考價:1000000
Sensofar結構光3D光學輪廓儀S wide是專用系統,適用于快速測量大樣品區(qū)域,測量面積最高可達 300 x 300 mm。它具有集成了數字顯微鏡的高分辨...Sensofar 集成式3D光學輪廓儀測量頭S mart 參考價:800000
Sensofar 集成式3D光學輪廓儀測量頭S mart的重量約只有S neox的一半(6kg),加上緊湊的外觀使的它在安裝上有更多選擇,例如可以直接在生產在線...西班牙Sensofar 3D表面光學輪廓儀S lynx 2 參考價:800000
西班牙Sensofar3D表面光學輪廓儀S lynx 2是一款多功能、用途廣泛的3D光學輪廓儀,用于粗糙度、體積和臨界尺寸測量。Sensofar 5軸空間3D光學輪廓儀 參考價:2000000
此款西班牙Sensofar 5軸空間3D光學輪廓儀S neox Five Axis結合了高精度旋轉模塊和S neox 3D光學輪廓儀的先進檢測和分析功能在規(guī)定的...Sensofar 集成式3D表面光學輪廓儀測量頭 參考價:700000
通過緊湊型設計和多功能性的統一結合,西班牙Sensofar 集成式3D表面光學輪廓儀測量頭S mart2是市面上*的可集成的區(qū)域共聚焦傳感器,S mart 2 ...Sensofar大視野宏觀3D表面測量系統S wide 參考價:800000
西班牙Sensofar大視野宏觀3D表面測量系統S wide 是專用系統,適用于快速測量大樣品區(qū)域,測量面積最高可達 300 x 300 mm。它具有集成了數字...西班牙Sensofar大視野3D光學輪廓儀S wide 參考價:800000
西班牙Sensofar大視野3D光學輪廓儀S wide是專用系統,適用于快速測量大樣品區(qū)域,測量面積最高可達 300 x 300 mm。它具有集成了數字顯微鏡的...西班牙Sensofar 3D表面光學輪廓儀S neox 參考價:1500000
新型 西班牙Sensofar 3D表面光學輪廓儀S neox在性能、功能、效 率和設計方面優(yōu)于現有的三維共聚焦白光干涉儀,是Sensofar 的新一 代*測量系...Sensofar 集成式3D高精度3D表面測量系統 參考價:700000
通過緊湊型設計和多功能性的統一結合,Sensofar 集成式3D高精度3D表面測量系統 是市面上*的可集成的區(qū)域共聚焦傳感器,S mart 2 的設計非常易于集...Sensofar 高精度3D表面測量系統S lynx 2 參考價:800000
Sensofar 高精度3D表面測量系統S lynx 2是一款多功能、用途廣泛的3D光學輪廓儀,用于粗糙度、體積和臨界尺寸測量。Sensofar 5軸高精度3D表面測量系統 參考價:2000000
此款西班牙Sensofar 5軸高精度3D表面測量系統 S neox Five Axis 結合了高精度旋轉模塊和S neox 3D光學輪廓儀的先進檢測和分析功能...Sensofar 高精度3D表面測量系統S neox 參考價:1500000
新型西班牙Sensofar 高精度3D表面測量系統S neox在性能、功能、效 率和設計方面優(yōu)于現有的三維共聚焦白光干涉儀,是Sensofar 的新一 代*測量...Sensofar大視野光學輪廓儀S wide 參考價:1000000
Sensofar大視野光學輪廓儀S wide是專用系統,適用于快速測量大樣品區(qū)域,測量面積最高可達 300 x 300 mm。它具有集成了數字顯微鏡的高分辨率測...