PicoFemto掃描電鏡原位光電力一體化系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto掃描電鏡原位光電力一體化系統(tǒng)，集成了掃描探針控制單元，可在三維空間內(nèi)對(duì)電學(xué)探針與光纖探針進(jìn)行亞納米級(jí)別精度的操縱與定位。
PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測(cè)量系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體取向耦合等多場(chǎng)耦合研究。
SEM熱電芯片臺(tái) 參考價(jià)：面議
SEM熱電芯片臺(tái)可搭配電學(xué)測(cè)試，兼容型號(hào)掃描電鏡，芯片兼容TEM-MEMS原位芯片樣品桿。
低溫液氮探針臺(tái) LN-4H-06 參考價(jià)：面議
低溫液氮探針臺(tái) LN-4H-06主要是由真空腔體、探針控制、顯微鏡模塊、變溫樣品臺(tái)、進(jìn)口分子泵組、全旺程真空規(guī)、智能溫控儀等組成。
SEM冷凍真空傳輸系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
SEM冷凍真空傳輸系統(tǒng)高匹配360°(無(wú)限)旋轉(zhuǎn)冷臺(tái)，冷臺(tái)傾轉(zhuǎn)角度55°，冷臺(tái)溫度≤180℃。
澤攸ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：600000
澤攸ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡操作簡(jiǎn)便，僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)光闌。
澤攸ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：450000
澤攸ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品，無(wú)重影、拖影，不錯(cuò)過(guò)每一個(gè)細(xì)節(jié)。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺(tái)（拉伸...
澤攸ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：350000
▲ 即插即用：用戶可以快速使用，無(wú)需復(fù)雜的安裝過(guò)程?！?體積小巧：便于放置在普通的實(shí)驗(yàn)臺(tái)面上，節(jié)省空間。▲ 高性價(jià)比：預(yù)對(duì)中鎢燈絲設(shè)計(jì)，用戶可以自行更換，降低了...
半自動(dòng)臺(tái)階儀 JS100B 參考價(jià)：面議
半自動(dòng)臺(tái)階儀 JS100B 國(guó)產(chǎn)半自動(dòng)臺(tái)階儀JS100B/200B/300B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量。JS100B...
手動(dòng)臺(tái)階儀 JS10B 參考價(jià)：面議
國(guó)產(chǎn)手動(dòng)手動(dòng)臺(tái)階儀 JS10B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量。JS10B提供一個(gè)彩色攝像頭對(duì)樣品和針尖同時(shí)成像，可無(wú)畸變...
全自動(dòng)臺(tái)階儀 JS2000B 參考價(jià)：面議
國(guó)產(chǎn)全全自動(dòng)臺(tái)階儀 JS2000B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量。JS2000B提供兩個(gè)彩色攝像頭對(duì)樣品和針尖同時(shí)成像，...
全自動(dòng)臺(tái)階儀 JS3000B 參考價(jià)：面議
國(guó)產(chǎn)全自動(dòng)臺(tái)階儀 JS3000B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量。JS2000B提供兩個(gè)彩色攝像頭對(duì)樣品和針尖同時(shí)成像，可...
澤攸ZP3-4 微納探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
澤攸ZP3-4 微納探針臺(tái) 可以快速、準(zhǔn)確、穩(wěn)定、使用場(chǎng)景多樣化、完善的技術(shù)解決方案、直觀、方便、高度集成。
澤攸SEM納米探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
澤攸SEM納米探針臺(tái)產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)了三維空間上的準(zhǔn)確定位， 它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程大，操作簡(jiǎn)單，能在真空下使用等優(yōu)點(diǎn)，可應(yīng)于SEM真空腔體內(nèi)完成各種納米精度運(yùn)...
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，透射電子顯微鏡是提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子級(jí)空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測(cè)量或全溫區(qū)測(cè)量功能。
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，采用全新的O圈輔助密封設(shè)計(jì)，更易封裝液體。實(shí)驗(yàn)中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內(nèi)，池內(nèi)可以承載一個(gè)大氣壓。...
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測(cè)量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實(shí)現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測(cè)條件。
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
澤攸STM-TEM力電一體測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸STM-TEM力電一體測(cè)量系統(tǒng) 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
澤攸STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
澤攸干式液氦溫區(qū)探針臺(tái) LHe-6H-06 參考價(jià)：面議
澤攸干式液氦溫區(qū)探針臺(tái) LHe-6H-06產(chǎn)品特點(diǎn)，真空腔體：真空度優(yōu)于610-4 Pa。降溫后優(yōu)于610-5 Pa。留有2個(gè)用戶法蘭接口（KF40可接入氣體或...
澤攸室溫自動(dòng)探針臺(tái) TZ-H-06 參考價(jià)：面議
澤攸室溫自動(dòng)探針臺(tái) TZ-H-06，高可靠性探針臺(tái)系統(tǒng)，主要應(yīng)用在半導(dǎo)體/微電子， 電子，機(jī)電，物理，化學(xué)，材料，光電，納米，微機(jī)電/MEMs，生物芯片等科學(xué)研...
澤攸液氦低溫恒溫器 參考價(jià)：面議
澤攸液氦低溫恒溫器 超低震動(dòng)干式液氦光學(xué)低溫恒溫器系統(tǒng)，使用氣體導(dǎo)熱隔震，實(shí)現(xiàn)樣品臺(tái)納米級(jí)的機(jī)械穩(wěn)定性。為有效降低環(huán)境震動(dòng)影響，產(chǎn)品設(shè)計(jì)安裝在光學(xué)隔震平臺(tái)上。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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