產(chǎn)地類別 |
進(jìn)口 |
價(jià)格區(qū)間 |
面議 |
應(yīng)用領(lǐng)域 |
化工,生物產(chǎn)業(yè),地礦,電子,交通 |
MSEB2S/MSEB5貝克休斯雙晶直探頭|貝克休斯探頭|美國GE雙晶探頭|啟航檢測(cè)科技(上海)有限公司全國* 配置USM100/USM36DAC/USM36DGS/USM36S/USM36L/USMGO+/USM88/USM87/USN60等等
MSEB2S/MSEB5貝克休斯雙晶直探頭|貝克休斯探頭|美國GE雙晶探頭|啟航檢測(cè)科技(上海)有限公司全國*
MSEB2S/MSEB5雙晶直探頭|貝克休斯探頭|美國GE雙晶探頭|啟航檢測(cè)科技(上海)有限公司全國* 配置USM100/USM36DAC/USM36DGS/USM36S/USM36L/USMGO+/USM88/USM87/USN60等等
正確選擇雙晶探頭
1、探頭頻率的選擇
超聲的發(fā)射頻率在很大程度上決定了超聲波探傷的檢測(cè)能力。頻率高時(shí),波長短,聲束指向性好,擴(kuò)散角較小,能量集中,因而發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力則比較強(qiáng)、分辨力好、缺陷定位準(zhǔn)確。但高頻率超聲在材料中衰減較大,穿透能力較差,反之亦然。由于雙晶探頭適用于較薄工件的探傷,不需要較強(qiáng)的穿透力。因此可以采用較高頻率的探頭。對(duì)于鍛件,板材,棒材等晶粒細(xì)小的工件,可以采用5MHz的雙晶探頭(若被檢工件表面較粗糙,高頻超聲散射較大,不易射入,則容易出現(xiàn)林狀回波)。對(duì)于晶粒粗大,超聲散射嚴(yán)重的材料,如奧斯體不銹鋼和鑄造件等,頻率高時(shí),也會(huì)出現(xiàn)晶界引起的林狀回波,致使無法探傷,對(duì)于這一類材料,建議選用1MHz—2.5MHz的低頻率雙晶探頭。
2、晶片尺寸的選擇從以上介紹的雙晶探頭的工作原理來看,雙晶探頭探傷主要取決于雙晶探頭的聲能集中區(qū),跟晶片的大小沒有直接的關(guān)系。雙晶探頭的晶片大小,只與工件探測(cè)面積的大小有關(guān),當(dāng)檢測(cè)面積大時(shí),為了提高探傷效率,宜采用晶片尺寸較大的探頭。當(dāng)檢測(cè)面積較小,或者檢測(cè)面帶有一定曲率的情況下,為了減少耦合損失宜用晶片尺寸小的探頭。
3、焦距的選擇雙晶探頭的兩個(gè)晶片都有一定的傾斜角度。發(fā)射聲束與接收聲束必然會(huì)產(chǎn)生相交,形成棱形的區(qū)域,此區(qū)域即為探傷區(qū)域。菱形區(qū)愈長,焦距愈大,探測(cè)深度愈深,適合厚工件的探傷檢驗(yàn),菱形區(qū)愈短,焦距愈小,探測(cè)深度愈淺,適合薄工件的探傷。處于棱形區(qū)的缺陷,其反射信號(hào)強(qiáng),同時(shí)對(duì)于同樣大小的缺陷,位于棱形區(qū)中心時(shí),反射信號(hào)。因此在實(shí)際探傷過程中,要根據(jù)被檢工件的厚度選取適當(dāng)?shù)慕咕唷=咕嘣叫?,則對(duì)薄工件的探傷越有利。一般來說,選擇雙晶探頭的焦距小于被檢工件厚度5—10mm左右。雙晶探頭的探傷靈敏度先隨缺陷的深度增加而增高,到達(dá)最大值后又隨深度增加而下降田,這種探傷靈敏度的變化是雙晶探頭的特點(diǎn)。
雙晶直探頭板材檢測(cè)
1、探頭的選擇
板厚≤60mm厚的鋼板可選用雙晶直探頭,探傷的目的就是掃查出缺陷在整個(gè)厚度范圍內(nèi)的位置以及在板面上的分布,根據(jù)缺陷大小,依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)判定其合格與否。由于鋼板缺陷的富集區(qū)一般在鋼板中心部位,其次是板厚的1/4和3/4處,所以探頭的選擇和靈敏度的調(diào)整,必須考慮鋼板中心部位應(yīng)有較高的檢出能力,且其他部位不漏檢。例如檢測(cè)20mm規(guī)格鋼板,缺陷在10mm處易出現(xiàn),選擇焦距F10探頭,以20mm大平底調(diào)整靈敏度,既能保證10mm位置處較高的檢測(cè)靈敏度,又能保證3和20mm位置有基本相同的靈敏度;同樣對(duì)于10mm鋼板,選擇焦距F5探頭,以10mm大平底調(diào)整靈敏度,保證了5mm位置處較高的檢測(cè)能力,又能保證3和10mm位置的靈敏度基本相同,所以,為保證鋼板檢測(cè)質(zhì)量,理想的雙晶探頭焦距應(yīng)等于鋼板厚度的一半。
2、掃查方式
NB/T47013-2015規(guī)定的掃查方式見下圖
1)鋼板邊緣或坡口預(yù)定線兩側(cè)(50、75、100)100%掃查; 2)中心部分間距不大于50mm平行線或間距不大于100mm的格子線掃查。
3)雙晶直探頭掃查時(shí),探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭隔聲層相垂直。
3、缺陷性質(zhì)估計(jì)
分層:缺陷波形陡直,底波明顯下降或消失;
折疊:不一定有缺陷波,但底波明顯下降,次數(shù)減少甚至消失,始波加寬;
白點(diǎn):波形密集尖銳活躍,底波明顯下降,次數(shù)減少,重復(fù)性差,移動(dòng)探頭,回波此起彼伏。
系列 | 型號(hào) | 頻率 (MHz) | 焦距 (mm) | 單晶片尺寸 (mm) | 外觀尺寸 | 帶寬 | 接口類型 | 接口方向 |
SEB | SEB 1 | 1 | 20 | Φ21半圓 | 類型15 | 40 | 雙聯(lián) Lemo 00 | 側(cè)裝 |
SEB 1-EN | 1 | 20 |
SEB 2 | 2 | 15 | 7x18 |
SEB 2-EN | 2 | 15 |
SEB 2-0° | 2 | 30 |
SEB 2-EN-0° | 2 | 30 |
SEB 4 | 4 | 12 | 6x20 |
SEB 4-EN | 4 | 12 |
SEB 4-0° | 4 | 25 |
SEB 4-EN-0° | 4 | 25 |
MSEB | MSEB 2 | 2 | 8 | Φ11半圓 | 類型16 | 40 |
MSEB 2-EN | 2 | 8 |
MSEB 4 | 4 | 10 | 3.5x10 |
MSEB 4-EN | 4 | 10 |
MSEB 4-EN-0° | 4 | 18 |
MSEB 4-0° | 4 | 18 |
MSEB 5 | 5 | 10 | Φ9半圓 |
SEB KF | SEB 2 KF 5 | 2 | 6 | Φ8半圓 | 類型17 | 30-60 | Microdot X2 |
SEB 4 KF 8 | 4 | 6 |
SEB 4 KF 8-EN | 4 | 6 |
SEB 5 KF 3 | 5 | 3 |
SEB 10 KF 3 | 10 | 3 | Φ5半圓 | 類型18 |
SEB 10 KF 3-EN |
|
|
特性
獨(dú)立的聲波發(fā)射和接收單元
縱波垂直傳輸
小焦距探頭具有非常好的近場(chǎng)分辨率
使用耐磨的塑料延遲塊,即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性
延遲塊由一個(gè)金屬環(huán)保護(hù)以防磨損
在焦點(diǎn)內(nèi)特別適合剩余壁厚的測(cè)量
加上特殊的延遲塊(定制產(chǎn)品)能夠在高溫表面測(cè)量
應(yīng)用
近表面的小缺陷探測(cè)和評(píng)估
焦點(diǎn)內(nèi)大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測(cè)
腐蝕、銹蝕剩余壁厚的測(cè)量(包括高溫情況下測(cè)量)
粘結(jié)檢測(cè)
螺釘,螺栓,銷釘
覆層和堆焊層
軸,桿,方坯芯檢測(cè)
粗晶材料
火車車輪
一個(gè)探頭殼體內(nèi)裝有兩個(gè)晶片的探頭我們稱之為雙晶探頭,又稱分割式探頭。由兩個(gè)縱波晶片組合成的雙晶探頭稱為縱波雙晶探頭,又稱雙晶直探頭;由兩個(gè)橫波晶片組成的雙晶探頭稱為橫波雙晶探頭,又稱雙晶斜探頭。
這兩種雙晶探頭中,雙晶直探頭的應(yīng)用較為廣泛。雙晶直探頭的兩個(gè)縱波晶片一個(gè)用于發(fā)射超聲,一個(gè)用于接收超聲。發(fā)射壓電晶片大都采用發(fā)射性能好的鋯鈦酸鉛,接收壓電晶片大都采用接收性能好的硫酸鋰。(見下圖)
區(qū)別于單晶探頭而言,雙晶探頭的發(fā)射靈敏度和接收靈敏度都更高。雙晶探頭的兩個(gè)晶片之間有一片吸聲性強(qiáng)、絕緣性好的隔聲層,它不僅用于克服發(fā)射聲束與反射聲束的相互干擾和阻塞,而且能使脈沖變窄、分辨率提高、消除發(fā)射晶片和延遲塊之間的反射雜波進(jìn)入接收晶片,有效減少雜波。
由于雙晶探頭的發(fā)射部分和接收部分都帶有延遲塊,能使探傷盲區(qū)大幅減小,故雙晶探頭對(duì)表面缺陷的探傷十分有利。
啟航檢測(cè)科技(上海)有限公司是一家專業(yè)從事無損檢測(cè)設(shè)備代理的公司,主營超聲波檢測(cè)設(shè)備及探頭、超聲波相控陣、超聲TOFD探傷儀、超聲波相控陣探頭以及數(shù)字成像平板等*設(shè)備,品牌有奧林巴斯NDT、美國磁通、美國sherwen、汕超、新美達(dá)、美國GE等多家產(chǎn)品。長期以來,公司堅(jiān)持走科技創(chuàng)新之路,不斷拓展產(chǎn)品線及產(chǎn)品技術(shù),加大應(yīng)用技術(shù)人員投入。
公司提供的無損檢測(cè)儀器設(shè)備包括工業(yè)X光機(jī)、工業(yè)CT、CR、DR、工業(yè)洗片機(jī)、超聲波探傷儀、超聲波相控陣、超聲波測(cè)厚儀、超聲波探頭、渦流探頭、渦流陣列探傷儀、管材的無損檢測(cè)解決方案、渦流陣列探傷儀、超聲導(dǎo)波、超聲TOFD探傷儀、渦流陣列、磁粉探傷機(jī)、著色滲透劑、熒光滲透線、工業(yè)內(nèi)窺鏡、大型復(fù)合材料超聲波自動(dòng)化檢測(cè)系統(tǒng)、大型超聲波板材檢測(cè)系統(tǒng)、大型超聲波管材檢測(cè)系統(tǒng)、大型壓力容器超聲波檢測(cè)系統(tǒng)、汽車點(diǎn)焊超聲波成像分析儀和其它實(shí)驗(yàn)室儀器。
超聲波探傷儀、相控陣探傷儀、磁粉探傷儀、膠片、探傷劑、耦合劑、試塊、洗片槽、膠片機(jī)、黑光燈、紫外線燈、相控陣探頭、單晶直探頭、雙晶直探頭、單晶斜探頭、雙晶斜探頭、水浸探頭、保護(hù)膜探頭、表面波探頭、絕緣子超聲波探頭、爬坡探頭、TOFD探頭、楔塊探頭、楔塊、導(dǎo)波探頭、磁性探頭、單晶連接線、雙晶連接線、反差增強(qiáng)劑、密度計(jì)、觀片燈、洗片夾、拉環(huán)磁鋼、鉛字、射線機(jī)、射線燈、個(gè)人劑量報(bào)警儀、輻射儀、環(huán)境輻射儀、黑油磁懸液、黑水磁懸液、紅油磁懸液、紅水磁懸液、紅磁膏、黑磁膏、紅磁粉、黑磁粉、噴壺、提升力試塊、梨形測(cè)定管、直型測(cè)定管、消泡劑、防銹劑、分散劑、磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)、白光照度計(jì)、紫外照度計(jì)、暗室紅燈、三色燈、顯影粉、定影粉、顯影液、定影液、暗袋、增感屏、防護(hù)背心、鉛衣、像質(zhì)計(jì)、無損檢測(cè)配件、
長期以來,依托高素質(zhì)的技術(shù)人員和銷售隊(duì)伍,本著誠信守法,客戶的經(jīng)營原則,以良好的信譽(yù)、豐富的經(jīng)驗(yàn)、周到的服務(wù),為客戶提供了的檢測(cè)設(shè)備及技術(shù)解決方案,贏得了國內(nèi)外廣大用戶的信賴和好評(píng)。我們提供的設(shè)備、系統(tǒng)及方案應(yīng)用于中國的各種工業(yè)領(lǐng)域,特別應(yīng)用于航空航天、汽車制造、石油化工、船舶制造、冶金、鐵路、核工業(yè)及電力、特檢、高校及研究機(jī)構(gòu)等。
良好信譽(yù) – 啟航檢測(cè)科技作為無損檢測(cè)行業(yè)的,依托高素質(zhì)團(tuán)隊(duì)及誠信周到的服務(wù),得到了客戶的一致贊同。
豐富經(jīng)驗(yàn) – 啟航檢測(cè)科技的銷售人員及技術(shù)人員大部分都擁有本科及以上學(xué)歷,在無損檢測(cè)行業(yè)有著多年的經(jīng)驗(yàn)及專業(yè)知識(shí)。
高效服務(wù) – 啟航檢測(cè)科技總部位于上海,全國主要城市設(shè)立分支機(jī)構(gòu)。任何時(shí)間和地點(diǎn),隨時(shí)準(zhǔn)備好為您提供及時(shí)可靠的服務(wù)。
解決方案 – 啟航檢測(cè)科技依托高素質(zhì)的技術(shù)團(tuán)及專業(yè)的本地化服務(wù),我們隨時(shí)為您提供及時(shí)全面的無損檢測(cè)解決方案。