MIC 10 UCI硬度計(jì)

GE的MIC 10可根據(jù)UCI方法（超聲波接觸阻抗 - 根據(jù)ASTM A1038和DIN 50159標(biāo)準(zhǔn)化）快速方便地進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)硬度測(cè)試。 IC 10系列MIC 10的規(guī)格使用經(jīng)過(guò)認(rèn)證的Vickers測(cè)試塊。 當(dāng)使用脊?fàn)钪危ɡ鏜IC-222試驗(yàn)臺(tái)）時(shí)，5個(gè)讀數(shù)的平均值應(yīng)在其認(rèn)證值的±3.6％之內(nèi)。 手寫(xiě)測(cè)試應(yīng)至少對(duì)10個(gè)讀數(shù)進(jìn)行平均，公差為±5％。 作為比較的參考，MIC 10系列可實(shí)現(xiàn)的±3.6％HV范圍轉(zhuǎn)換為羅克韋爾C標(biāo)度，如下表所列。 此外，為了與臺(tái)式Rockwell測(cè)試儀比較，還列出了由ASTM E18定義的這些硬度水平的所需重復(fù)性。材料表面中的金剛石壓痕被電子地測(cè)量并且即時(shí)顯示，而不使用通常與常規(guī)硬度測(cè)試儀相關(guān)的麻煩的光學(xué)評(píng)價(jià)。

測(cè)量原理簡(jiǎn)析

傳統(tǒng)的維氏或布氏硬度測(cè)試需要在負(fù)載下由其壓痕產(chǎn)生的壓痕的面積的光學(xué)評(píng)價(jià)。 使用UCI（超聲波接觸阻抗）方法的測(cè)試，測(cè)試壓痕的對(duì)角線(xiàn)（為了確定維氏硬度值而必須已知）的對(duì)角線(xiàn)不像通常那樣光學(xué)地評(píng)估，但是凹痕區(qū)域通過(guò)測(cè)量 超聲頻率。

UCI方法適用于測(cè)試薄的氮化或滲碳的表面硬化層或涂層如鉻。 為了確保讀數(shù)不受襯底材料的影響，必須考慮維氏硬度鉆石的穿透深度。 通常，層的厚度應(yīng)該是壓痕深度的十倍的zui小值。 但是，盡管如此，試樣的總厚度應(yīng)該至少為2-3mm，否則樣品必須連接到支撐板

UCI方法適用于測(cè)試薄的氮化或滲碳的表面硬化層或涂層如鉻。為了確保讀數(shù)不受襯底材料的影響，必須考慮維氏硬度鉆石的穿透深度。通常，層的厚度應(yīng)該是壓痕深度的十倍的zui小值。但是，盡管如此，試樣的總厚度應(yīng)該至少為2-3mm，否則樣品必須連接到支撐板
通常，通過(guò)壓痕采樣的面積越大，測(cè)試結(jié)果越*。非均勻材料或由大粗晶粒組成的微觀結(jié)構(gòu)的變化被平均，提供*的結(jié)果。較大壓痕的另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是對(duì)表面光潔度的要求較低，從而減少了準(zhǔn)備表面的時(shí)間。相比之下，回彈測(cè)試儀的各種沖擊裝置產(chǎn)生的壓痕遠(yuǎn)大于由任何UCI探針產(chǎn)生的壓痕。當(dāng)測(cè)試大型鑄件和鍛件時(shí)，建議使用回彈儀。測(cè)試由均質(zhì)材料或已經(jīng)接受表面硬化處理的那些組件構(gòu)成的小部件需要由UCI探針產(chǎn)生的較淺的凹槽。

儀器特點(diǎn)

•重復(fù)測(cè)試和文檔的有效支持
•易于硬度測(cè)試操作
?單個(gè)或作為活動(dòng)算術(shù)平均值
?預(yù)編程校準(zhǔn)參數(shù)
?可針對(duì)特定測(cè)試要求定制儀器操作
?根據(jù)ASTM A 1038標(biāo)準(zhǔn)化
?測(cè)試負(fù)載從1N（HV0.1）到98N（HV10）
?自動(dòng)轉(zhuǎn)換成不同的硬度和拉伸強(qiáng)度
?數(shù)據(jù)記錄器版本，帶有用于測(cè)量數(shù)據(jù)和儀器設(shè)置的內(nèi)部數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器

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