原位掃描電鏡(SEM) 參考價(jià):面議
原位掃描電鏡(SEM)基于自主研發(fā)的臺(tái)式掃描電鏡,集成原位拉伸樣品臺(tái),對(duì)樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化,拓展了掃描電鏡的應(yīng)用領(lǐng)域...原位拉伸-掃描電鏡 參考價(jià):面議
ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺(tái)式掃描電鏡,集成原位拉伸樣品臺(tái),對(duì)樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化,拓展了掃描電鏡的應(yīng)...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)