目錄:南京芯測軟件技術(shù)有限公司>>失效分析設(shè)備>>ESD測試設(shè)備>> HED-G5000全自動芯片ESD測試設(shè)備
| 價格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,航天,汽車,電氣 |
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日本Hanwa-HED-G5000全自動HBM/MM/Latch-up測試機、HANWA ESD測試機
全自動芯片ESD測試設(shè)備產(chǎn)品概要：
HANWA新一代G5000系列ESD 全自動靜電破壞檢測機已上市，搭載多Pin腳無繼電器的GND模組（最高支持MAX2048pin），全不受寄生電容的影響，實現(xiàn)高精度檢測。此設(shè)備是符合日本及國際標(biāo)準(zhǔn)的高可靠性設(shè)備 （滿足JEITA / ESDA / JEDEC規(guī)格）可用于閂鎖測試，并適用脈沖電 流法·電源過電壓·ESD脈沖印加法。汽車電子AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)，車規(guī)級集成電路可靠性靜電HDM/CDM測試。
技術(shù)優(yōu)勢：
1、適應(yīng)以下國際標(biāo)準(zhǔn)波形: JEDEC，ESDA，AEC和JEITA。
2、該系統(tǒng)特別的短路放電電路可通過其原始機械設(shè)計實現(xiàn)。
3、短路最大限度地減少電感和電容對數(shù)據(jù)的影響。
4、使用單個電路可確保每個器件引腳的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。
全自動芯片ESD測試設(shè)備主要應(yīng)用：
芯片靜電破壞自動測定裝置。
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