當前位置:東莞市德祥儀器有限公司>>溫濕度環(huán)境試驗箱>>PCT/HAST蒸汽老化試驗箱>> DX-HAST350FHAST溫濕度偏壓壽命試驗箱
產地類別 | 國產 | 應用領域 | 能源,電子,冶金,電氣,綜合 |
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溫度范圍 | +100℃~+132℃ | 濕度范圍 | 70%~100% |
濕度控制穩(wěn)定度? | ±3%RH | 使用壓力? | 1.2~2.89kg(含1atm) |
壓力波動均勻度? | ±0.1Kg |
HAST溫濕度偏壓壽命試驗箱設備特點:
1)采用進口耐高溫電磁閥雙路結構,降低了使用故障率。
2)獨立蒸汽發(fā)生室,避免蒸汽直接沖擊產品,以免造成產品局部破壞。
3)門鎖省力結構,解決第一代產品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。
4)試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設計(試驗桶內空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現性.
5)超長效實驗運轉時間,長時間實驗機臺運轉400小時.
6)水位保護,透過試驗室內水位Sensor檢知保護.
7)tank耐壓設計,箱體耐壓力(150℃)2.65kg,符合水壓測試6kg.
8)二段式壓力安全保護裝置,采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置.
9)安全保護排壓鈕,警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .
10)偏壓測試端子耐壓可達3000V(選配)
11)USB導出歷史記錄數據,曲線.
HAST溫濕度偏壓壽命試驗箱用途:
加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等),加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間。用于調查分析何時出現電子元器件,和機械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。隨著半導體可靠性的提高,目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效,因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。
除了HAST試驗箱,還有哪些其他類型的環(huán)境模擬測試設備:
除了HAST試驗箱,還有多種類型的環(huán)境模擬測試設備,它們用于模擬不同的環(huán)境條件以評估產品在實際使用中的性能和可靠性。以下是一些常見的環(huán)境模擬測試設備類型:
溫濕度試驗箱:用于模擬不同的溫度和濕度條件,評估產品在各種氣候條件下的性能。
光照老化試驗箱:通過模擬自然光或人工光源對材料的老化影響,用于測試材料的耐光性和顏色穩(wěn)定性。
鹽霧試驗機:用于模擬鹽霧環(huán)境對材料或產品的腐蝕影響,主要用于評估金屬材料的防護層和零部件的耐腐蝕性能。
振動試驗機:模擬運輸和使用過程中的振動環(huán)境,評估產品的結構穩(wěn)定性和耐振性。
沖擊試驗機:用于模擬產品在跌落或受到突然沖擊時的耐受性,評估產品的抗沖擊性能。
氣候箱(Climate Chamber):能夠同時模擬溫度、濕度、風速等多種氣候條件,用于綜合評估產品的環(huán)境適應性。
高低溫試驗箱:用于測試產品在惡劣高溫或低溫條件下的性能,評估產品的耐溫性。
濕熱試驗箱:模擬高濕環(huán)境,評估產品在潮濕條件下的性能和可靠性。
氣壓試驗箱:用于模擬不同氣壓條件,評估產品在高海拔或低氣壓環(huán)境下的性能。
綜合環(huán)境模擬系統:能夠同時模擬多種環(huán)境因素,如溫度、濕度、振動、氣壓等,進行復雜的環(huán)境適應性測試。
這些環(huán)境模擬測試設備在產品設計、研發(fā)和質量控制過程中發(fā)揮著重要作用,幫助制造商確保產品能夠在各種環(huán)境條件下保持性能和可靠性。
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