PCB TDR特性阻抗測(cè)試儀：H系列TDR阻抗測(cè)試儀是基于時(shí)域反射原理設(shè)計(jì)而成的高帶寬特性阻抗測(cè)試分析專用儀器。儀器采用真差分寬帶取樣技術(shù)，能夠自動(dòng)、快速、批量、準(zhǔn)確測(cè)試線路板及電線電纜的特性阻抗，具備波形顯示與分析功能，適用于PCB硬板、FPC軟板及電線電纜的阻抗測(cè)試。
PCB TDR特性阻抗測(cè)試儀
1、產(chǎn)品用途
H系列PCB TDR特性阻抗測(cè)試儀是基于時(shí)域反射原理設(shè)計(jì)而成的高帶寬特性阻抗測(cè)試分析專用儀器。儀器采用真差分寬帶取樣技術(shù)，能夠自動(dòng)、快速、批量、準(zhǔn)確測(cè)試線路板及電線電纜的特性阻抗，具備波形顯示與分析功能，適用于PCB硬板、FPC軟板及電線電纜的阻抗測(cè)試。
2、PCB TDR特性阻抗測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)
1) H系列包括H045/H085/H150三種不同帶寬的產(chǎn)品可供選擇，應(yīng)用領(lǐng)域全面覆蓋阻抗條測(cè)試、軟板/硬板板內(nèi)測(cè)試。
2) PCB TDR特性阻抗測(cè)試儀較高帶寬可達(dá)15GHz，處于較高水平，測(cè)試線長(zhǎng)最短可達(dá)1.5cm，最長(zhǎng)可達(dá)5m。
3) 儀器內(nèi)置校準(zhǔn)件，開機(jī)自動(dòng)校準(zhǔn)，解決了同類儀器常見的校準(zhǔn)過(guò)程復(fù)雜
4) 標(biāo)配微帶探頭用于阻抗條測(cè)試，選配可調(diào)探頭用于板內(nèi)阻抗測(cè)試，滿足5G線路板測(cè)試需求。
5) 內(nèi)置靜電保護(hù)電路，可承受6kV靜電放電，可在車間環(huán)境中使用，不再需要嚴(yán)苛的防靜電實(shí)驗(yàn)室和穿防靜電服操作。
6) 采用真差分測(cè)量技術(shù)，*模擬真實(shí)信號(hào)傳輸場(chǎng)景，測(cè)量準(zhǔn)確度更高。
7) 采用高精度多點(diǎn)校準(zhǔn)與自動(dòng)校準(zhǔn)相結(jié)合技術(shù)，出廠多點(diǎn)校準(zhǔn)，精度更高。
8) 測(cè)量數(shù)據(jù)支持多種格式導(dǎo)出，可供ERP系統(tǒng)讀取。
9) 智能化測(cè)試軟件，自動(dòng)獲取波形起點(diǎn)和末端，減少不同人員操作造成的偏差。從設(shè)置到測(cè)試只需三步即可完成，操作簡(jiǎn)單方便。
3、符合標(biāo)準(zhǔn)
1) IPC-TM-650 標(biāo)準(zhǔn) PCB 傳輸線特性阻抗時(shí)域反射測(cè)試方法
2) Intel 技術(shù)標(biāo)準(zhǔn) PCB 測(cè)試方法（TDR 測(cè)試 PCB 特性阻抗）
3) 中國(guó)CPCA 標(biāo)準(zhǔn) 印制板特性阻抗時(shí)域反射測(cè)試方法
4) 各種高速串行總線國(guó)際通行標(biāo)準(zhǔn)（USB、SATA、PCI-E、HDMI、DP 等）
4、PCB TDR特性阻抗測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)及配置
