目錄:上海首立實(shí)業(yè)有限公司>>HORIBA（過程&環(huán)境）>>RoHS檢測儀器>> HORIBA XGT-5000WR微區(qū)掃描X射線熒光光譜儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,石油,電子,制藥 |
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技術(shù)參數(shù)：
? 10 µm 的 X 射線高強(qiáng)度、高速度的掃描分析。
樣品可以置于大氣中分析，的真空探針方式。
? 同軸觀察，可以從攝像系統(tǒng)中選取所需的測量點(diǎn)，單鍵控制，放大倍數(shù)可至 100 倍。
? 可以對物質(zhì)表面和內(nèi)部構(gòu)造同時(shí)進(jìn)行分析。
? 主要應(yīng)用：WEEE/RoHS 法令中涉及的產(chǎn)品有害元素的測定、珠寶首飾的成份檢測、電子電路板的微區(qū)分析、考古或博物館中對古物的分析
? 同時(shí)也滿足科研院校在常規(guī)元素檢測方面的要求
可進(jìn)行樣品內(nèi)部從Na~ U的元素進(jìn)行定性、定量分析
2、X射線透射成像，可觀察樣品內(nèi)部細(xì)微構(gòu)造
3、多點(diǎn)自動(dòng)分析，一次可測99點(diǎn)
4、能做小至10μm的微區(qū)
5、兩種X射線聚焦導(dǎo)管快速切換，可選1.2mm和10μm或100μm
6、X射線與可見光同軸設(shè)計(jì)，真正做到準(zhǔn)確定位測試部位，見即所得。
7、高純硅檢測器，保證高穩(wěn)定性及良好的性能
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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