倒置金相顯微鏡ICX41M

理想型倒置金相顯微，操作更簡單，解決方案更多樣。

1、ICX41M 采用全新設(shè)計(jì)的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，可廣泛應(yīng)用于鑄造、冶煉、熱處理的研究，原材料檢驗(yàn)或材料處理分析。

2、為滿足用戶長時間的觀察需求，ICX41M系列使用低手位操作模式，配備了360°旋轉(zhuǎn)觀察筒，充分符合人體工程學(xué)原理。

3、添加以環(huán)保、經(jīng)濟(jì)為理念的ECO紅外感應(yīng)系統(tǒng)，在顯微鏡長時間無操作的情況下，系統(tǒng)會自動關(guān)閉電源或重新開啟，以節(jié)省能耗。

4、前置物鏡倍率顯示功能，通過內(nèi)置的倍率傳感器，將當(dāng)前倍率顯示在儀器正前方，使研究工作更加便捷。

ICX41M，每一個人性化的細(xì)節(jié)設(shè)計(jì)，都將您的研究帶往高品質(zhì)、易操作的方向。

舒服而簡單的操作模式

1、眾多科研工作者，在長達(dá)8小時甚至十幾個小時的連續(xù)觀察后，不免感到眼睛和肢體的疲勞。舜宇為減輕疲勞，提高效率為目標(biāo)，配備高眼點(diǎn)360°旋轉(zhuǎn)式雙目觀察筒，無需依賴眼底提升器即可根據(jù)需求將眼點(diǎn)提升至34mm，即使在站立狀態(tài)下，也可輕松、快速的進(jìn)行觀察。

2、低手位操作模式，不必為長時間手肘懸空操作帶來酸痛感而擔(dān)憂，用戶在調(diào)焦過程中，可將手肘放在工作臺上，舜宇致力于為用戶帶來舒服的操作體驗(yàn)。

穩(wěn)定而貼心的外觀設(shè)計(jì)

ICX41M金相顯微鏡機(jī)身采用全金屬鑄造，表面經(jīng)防腐耐磨工藝處理，堅(jiān)實(shí)穩(wěn)固。

機(jī)身后部帶有搬運(yùn)裝置，您可以輕松的進(jìn)行儀器的移動；充分利用機(jī)身內(nèi)置空間，放置儀器拆卸工具，通用于拆卸儀器的各主要部位，實(shí)用主義，收納便捷。

載物臺自帶移動鎖緊面板，有效避免在搬運(yùn)過程中由于平臺慣性移動發(fā)生的碰撞。

1、雙向線軌三層機(jī)械移動平臺

配有240mm×250mm大尺寸三層機(jī)械移動平臺，移動范圍50mm×50mm，可承載較厚且較大的樣品。

平臺采用雙向線軌傳動，手感更舒服，操作更靈活。

2、前置倍率顯示功能

倒置顯微鏡存在切換倍率過程中不易看到當(dāng)前倍率的問題，這一點(diǎn)對觀察工作十分不便。ICX41M 全新添加物鏡倍率顯示功能，通過內(nèi)置倍率傳感器，將當(dāng)前倍率顯示在儀器正前方，使研究工作更加便捷。標(biāo)準(zhǔn)配置五孔內(nèi)定位明暗場轉(zhuǎn)換器，帶DIC滑槽。

3、全新智能ECO系統(tǒng)

如果長時間的離開，或者遺忘關(guān)閉儀器，舜宇I(lǐng)CX41M金相顯微鏡全新添加的的ECO紅外感應(yīng)系統(tǒng)會自動關(guān)閉電源，當(dāng)您再次返回時重新開啟，這項(xiàng)功能不僅可以節(jié)省能耗，而且可以延長儀器使用壽命。

ICX41M貼心的各項(xiàng)附件，滿足您工業(yè)檢測中多樣化的個性需求。

無限遠(yuǎn)長工作距平場明暗場消色差金相物鏡

1、明暗場物鏡能夠?qū)崿F(xiàn)明場、暗場、偏光、微分干涉觀察。

2、嚴(yán)格選用高透過率的鏡片和先進(jìn)的鍍膜技術(shù)，能夠真實(shí)還原樣品的自然色彩。

3、半復(fù)消色差設(shè)計(jì)具有優(yōu)異的色差校正性能，提高了觀察圖像的襯度、清晰度。

涵蓋明場、暗場、簡易偏光、微分干涉等多種觀察方式，適應(yīng)多種研究需求。

高襯度暗視場觀察

1、ICX41M暗場觀察，其充分利用了物鏡的孔徑角，能夠清晰的觀察到金相組織的雜質(zhì)及細(xì)微缺陷。

2、明暗場觀察切換拉桿位于機(jī)身左側(cè)，只需輕推即可實(shí)現(xiàn)暗場觀察。

簡易偏光觀察

1、ICX41M金相顯微鏡采用360°旋轉(zhuǎn)式檢偏器可在不移動標(biāo)本的情況下，方便地觀察標(biāo)本在不同偏振角度光線下呈現(xiàn)的狀態(tài)。

DIC 微分干涉觀察

1、ICX41M 配置的微分干涉組件，可以將明視場觀察法中無法檢測到的高度差異，以浮雕的形式表現(xiàn)出來，適用于檢測高度差異即其微小的樣品，包括金相組織、礦物、晶圓表面等。

PCB 切片暗場金相組織簡易偏光金相組織微分干涉

倒置金相顯微鏡ICX41M

配置參數(shù)

汽車車標(biāo)表面銅層顆粒度分析