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當(dāng)前位置：北京盈思拓科技有限公司>>測(cè)試設(shè)備>>光學(xué)測(cè)試設(shè)備>> PSEL勞厄衍射系統(tǒng)
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品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地
更新時(shí)間：2024-11-18 13:17:24瀏覽次數(shù)：131次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 化工儀器網(wǎng)該設(shè)備利用背衍射法探測(cè)材料的晶體結(jié)構(gòu)，常用于單晶定向、測(cè)定晶體對(duì)稱性、表征晶體的成晶質(zhì)量等。支持實(shí)時(shí)成像和累計(jì)曝光兩種工作模式，最長曝光時(shí)間達(dá)30分鐘，最短可至毫秒。空間分辨率高、用戶界面直觀。
┃ 設(shè)備特點(diǎn)
PSEL軟件定向誤差低至0.05度
多晶硅片二維定向mapping
大批量樣品篩選
超20kg重負(fù)荷樣品定位
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