您好, 歡迎來(lái)到化工儀器網(wǎng)! 登錄| 免費(fèi)注冊(cè)| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
當(dāng)前位置:玉崎科學(xué)儀器(深圳)有限公司>>日立hitachi>>原子力顯微鏡>> AFM5500M日本日立5500M全自動(dòng)型原子力顯微鏡
產(chǎn)品型號(hào)AFM5500M
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時(shí)間:2024-08-08 14:07:31瀏覽次數(shù):228次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
儀器種類 | 其它 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,綜合 |
日本日立5500M全自動(dòng)型原子力顯微鏡
日本日立5500M全自動(dòng)型原子力顯微鏡
高度集成自動(dòng)化功能追求高效率檢測(cè)
降低檢測(cè)中的人為操作誤差
4英寸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)
自動(dòng)更換懸臂功能
大范圍水平掃描
采用管型掃描器的原子力顯微鏡,針對(duì)掃描器圓弧運(yùn)動(dòng)所產(chǎn)生的曲面,通常通過(guò)軟件校正方式獲得平面數(shù)據(jù)。但是,用軟件校正方式不能消除掃描器圓弧運(yùn)動(dòng)的影響,圖片上經(jīng)常發(fā)生扭曲效果。
AFM5500M搭載了最新研發(fā)的水平掃描器,可實(shí)現(xiàn)不受圓弧運(yùn)動(dòng)影響的準(zhǔn)確測(cè)試。
Sample :Amorphous silicon thin film on a silicon substrate
高精角度測(cè)量
普通的原子力顯微鏡所采用的掃描器,在豎直伸縮的時(shí)候,會(huì)發(fā)生彎曲(crosstalk)。這是圖像在水平方向產(chǎn)生形貌誤差的直接原因。
AFM5500M中搭載的全新掃描器,在豎直方向上不會(huì)發(fā)生彎曲(crosstalk) ,可以得到水平方向沒有扭曲影響的正確圖像。
Sample : Textured-structure solar battery(having symmetrical structure due to its crystal orientation.)
*使用AFM5100N(開環(huán)控制)時(shí)
通過(guò)SEM-AFM的共享坐標(biāo)樣品臺(tái),可實(shí)現(xiàn)在同一視野快速的觀察?分析樣品的表面形貌,結(jié)構(gòu),成分,物理特性等。
The ovrlay images createed by using AZblend Ver.2.1, ASTRON Inc.
上圖是AFM5500M拍攝的形狀像(AFM像)和電位像(KFM像)分別和SEM圖像疊加的應(yīng)用數(shù)據(jù)。
通過(guò)分析AFM圖像可以判斷,SEM對(duì)比度表征石墨烯層的厚薄。
石墨烯層數(shù)不同導(dǎo)致表面電位(功函數(shù))的反差。
SEM圖像對(duì)比度不同,可以通過(guò)SPM的高精度3D形貌測(cè)量和物理特性分析找到其原因。
請(qǐng)輸入賬號(hào)
請(qǐng)輸入密碼
請(qǐng)輸驗(yàn)證碼
以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé),化工儀器網(wǎng)對(duì)此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
溫馨提示:為規(guī)避購(gòu)買風(fēng)險(xiǎn),建議您在購(gòu)買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。