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        1. 北京瑞科中儀科技有限公司
          中級會(huì)員 | 第1年

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          關(guān)聯(lián)工業(yè)掃描電子顯微鏡

          參  考  價(jià)面議
          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

          產(chǎn)品型號

          品       牌ZEISS/蔡司

          廠商性質(zhì)代理商

          所  在  地北京市

          更新時(shí)間:2024-10-10 10:24:48瀏覽次數(shù):123次

          聯(lián)系我時(shí),請告知來自 化工儀器網(wǎng)
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          產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥,綜合
          簡要描述:關(guān)聯(lián)工業(yè)掃描電子顯微鏡技術(shù)為您提供了集成化的解決方案和無縫銜接的工作流程。選擇蔡司作為光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡、離子束顯微鏡和X射線顯微鏡的供應(yīng)商,并從多年的關(guān)聯(lián)分析經(jīng)驗(yàn)中受益。選擇以樣品為中心的圖像和數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)技術(shù),使您的研究工作超越單一顯微鏡能夠達(dá)到的技術(shù)界限。

          關(guān)聯(lián)顯微鏡

          解決方案的優(yōu)點(diǎn)

          為了獲得樣品的實(shí)質(zhì),關(guān)聯(lián)工業(yè)掃描電子顯微鏡需要經(jīng)常使用多種方法進(jìn)行分析。從微米級到納米級的觀察需要將光學(xué)與電子顯微鏡(CLEM)或X射線顯微鏡與FIB-SEM聚焦離子束掃描電子顯微鏡(CXF)進(jìn)行相關(guān)聯(lián)。蔡司的關(guān)聯(lián)顯微鏡技術(shù)為您提供了集成化的解決方案和無縫銜接的工作流程。選擇蔡司作為光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡、離子束顯微鏡和X射線顯微鏡的供應(yīng)商,并從多年的關(guān)聯(lián)分析經(jīng)驗(yàn)中受益。選擇以樣品為中心的圖像和數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)技術(shù),使您的研究工作超越單一顯微鏡能夠達(dá)到的技術(shù)界限。

          • 獲得對樣品的見解

          • 無縫地從微米級別轉(zhuǎn)移到納米級別

          • 采用簡化的工作流程在更短的時(shí)間內(nèi)獲取更多數(shù)據(jù)

          • 受益于強(qiáng)大的圖像和數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)處理性能

          • 從2D到4D獲取,處理和分析數(shù)據(jù)

          • 使用關(guān)聯(lián)顯微鏡技術(shù)中的蓋玻片和夾具進(jìn)行準(zhǔn)確和高效的工作

          • 關(guān)聯(lián)工業(yè)掃描電子顯微鏡

          蔡司關(guān)于增材制造的關(guān)聯(lián)顯微鏡技術(shù)解決方案

          深入理解并改善缺陷檢測,并從根源抑制缺陷產(chǎn)生

          特點(diǎn)

          • 深入了解缺陷的產(chǎn)生; 如雜質(zhì),殘留物,不正確的幾何形狀

          • 了解 CAD圖紙中的材料屬性,粉末質(zhì)量,激光參數(shù)和布局等屬性的影響

          • 使用高襯度,高分辨率成像以區(qū)分材料中不同的相

          • 關(guān)聯(lián)工業(yè)掃描電子顯微鏡在微觀結(jié)構(gòu)內(nèi)非破壞性地確認(rèn)三維亞表面特征

          蔡司關(guān)聯(lián)顯微鏡技術(shù)已被證實(shí)可成功識別3D打印部件中的雜質(zhì),并通過應(yīng)用多個(gè)工作流程來了解其產(chǎn)生原因。蔡司Xradia Versa被用來進(jìn)行大范圍掃描,然后將可疑的亮點(diǎn)位置轉(zhuǎn)移到蔡司 Crossbeam中,并用蔡司Atlas 5重新定位,最后利用EDX進(jìn)行分析。這種方法可以識別雜質(zhì)的來源,這些雜質(zhì)往往來自于之前的3D打印作業(yè),由于使用了不同的粉末材料而未能清潔粉末容器而引入的。

          蔡司關(guān)于研究納米顆粒結(jié)構(gòu)和化學(xué)分析的關(guān)聯(lián)顯微技術(shù)

          提供納米級別材料的定量,高分辨率分析

          特點(diǎn)

          • 納米顆粒和納米材料的可視化

          • 觀察納米材料的結(jié)構(gòu)信息

          • 對輕元素和官能團(tuán)的量化研究

          為了使用光學(xué)顯微鏡檢測納米顆粒和納米材料(如石墨烯),研究人員使用蔡司Axio Imager顯微鏡優(yōu)異的偏振光襯度,并將其與蔡司全干涉襯度(TIC)模塊相結(jié)合,使得可以對納米材料的厚度進(jìn)行檢測。接下來,使用關(guān)聯(lián)顯微鏡技術(shù),使蔡司 FE-SEM可對石墨烯薄片重新定位,以便能夠觀察其結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分。由于類似碳元素和官能團(tuán)之類的輕元素通過EDX無法進(jìn)行表征,研究人員使用蔡司原位拉曼顯微鏡(RISE)進(jìn)行研究,從而獲得石墨烯片的質(zhì)量信息。

          關(guān)聯(lián)顯微鏡顆粒度分析 - 更豐富的圖像信息、更高的圖像質(zhì)量。

          表征對工藝流程起決定性作用的顆粒。關(guān)聯(lián) Particle Analyzer 將光學(xué)顯微鏡與電子顯微鏡兩者的分析數(shù)據(jù)相結(jié)合。使用光學(xué)顯微鏡檢測到顆粒后,您可以借助蔡司關(guān)聯(lián)顯微鏡顆粒度分析自動(dòng)完成顆粒的重定位和 EDX 分析。它是完整表征殘留顆粒的理想方法。

          關(guān)聯(lián) Particle Analyzer 會(huì)以報(bào)告的形式自動(dòng)記錄光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡兩者的分析結(jié)果。關(guān)聯(lián)顯微鏡顆粒度分析儀比單獨(dú)先使用光學(xué)顯微鏡然后再使用電子顯微鏡的分析方案速度要快 10 倍多。




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