NX-20Park Systems原子力顯微鏡 NX-20
【簡單介紹】
品牌 | Techcomp/天美 |
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【詳細說明】
Park Systems原子力顯微鏡 NX-20
儀器簡介:
NX-20具有的形貌表征能力,完善的設(shè)計使其保證了掃描的高精確度和數(shù)據(jù)的高重復(fù)性。高度自動化的軟硬件,極大地避免了人為操作的失誤和誤差,提高了工作效率測量,降低了勞動強度。該儀器具備高速的伺服響應(yīng)能力,超高的掃描器線性度,極低的閉環(huán)檢測器噪聲水平,和zui小的系統(tǒng)熱漂移量。作為一款界面友好,操作簡便的儀器,NX-20會成為納米研究領(lǐng)域及相關(guān)產(chǎn)業(yè)界的得力助手。
Park Systems原子力顯微鏡 NX-20技術(shù)參數(shù):
掃描器
XY掃描器
柔性制導(dǎo)閉環(huán)控制單模塊掃描器
掃描范圍100μm*100μm(可選50μm*50μm)
平面偏移度:<2nm(全量程掃描)
Z掃描器
柔性制導(dǎo)強力掃描器
掃描范圍15μm(可選30μm)
定位檢測噪聲:0.03nm(帶寬:1kHz)
共振頻率:>9kHz
表面成像噪聲:0.03nm
樣品臺
樣品臺種類:16位點樣品臺/150mm直徑真空吸附臺(可選200mm直徑真空吸附臺)
樣品尺寸: 150mm*150mm*20mm
樣品重量:zui大500g
樣品臺移動范圍:150mm*150mm(可選200mm*200mm)
主要特點:
一、高精確性和高重復(fù)性
● 探針幾乎沒有損耗,保證了圖像的高分辨率
● 非接觸模式下zui快的掃描速度
● *的雙路閉環(huán)解耦合XY平板式掃描器
● 業(yè)內(nèi)zui小的系統(tǒng)漂移和遲滯
二、低噪聲檢測器精確測量樣品形貌
●采用業(yè)界的低噪聲檢測器測量樣品形貌
● 消除了蠕變效應(yīng)導(dǎo)致的邊緣超調(diào)誤差
● 高速掃描過程中的精確形貌檢測記錄
●業(yè)界的極小正反測量偏離量,小于0.15%
三、Non-Contact™(真正非接觸) 模式極大降低了使用成本
●相對于傳統(tǒng)掃描模式,將探針壽命提高了10倍以上
●極低的探針損耗極大地延長了探針高分辨掃描壽命
●對樣品幾乎沒有磨損
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