EDXRF測(cè)厚儀可用于檢測(cè)多層的成分及厚度，除了計(jì)算單層物質(zhì)的成分分析還要去計(jì)算多層成分及厚度，同時(shí)會(huì)遇到微小的樣品位置、復(fù)雜的樣品的形狀(改變形狀再測(cè)試厚度會(huì)變化)、上下層有相同元素等等檢測(cè)難題，所以它比其它EDXRF應(yīng)用更加復(fù)雜，這也是為什么EDXRF做ROHS重金屬、合金分析、貴金屬檢測(cè)等等的廠家很多，做測(cè)厚儀的很少、做得很好的很少的原因。決定EDXRF測(cè)厚儀性能的重要參數(shù)是什么?跟著X熒光光譜測(cè)厚儀廠家一六儀器來看一下吧。

　　決定EDXRF測(cè)厚儀性能的重要參數(shù)有三點(diǎn)：最小測(cè)量面積;可否測(cè)量異形凹槽件;多鍍層，重復(fù)鍍層檢測(cè)能力。近年來國(guó)內(nèi)其他廠商得到國(guó)外Fp算法并且學(xué)會(huì)了應(yīng)用，目前有二、三家可以檢測(cè)簡(jiǎn)單的多層鍍層，但是最小測(cè)量面積都在直徑0.5mm以上，無(wú)法變焦只能通過對(duì)焦應(yīng)付一些凹凸彎曲落差不大的樣品，也無(wú)法測(cè)試重復(fù)鍍層和輕元素。

　　江蘇一六儀器有限公司坐落于蘇州昆山市，是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)的企業(yè)。公司的研發(fā)團(tuán)隊(duì)與海內(nèi)外專家通力合作，開創(chuàng)出了全新一代EFP算法，及高均值聚集光源的微光聚集技術(shù)，在微小檢測(cè)面、異型探測(cè)面、多層多元素與多層同元素的檢測(cè)上，都具備好的表現(xiàn)。

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