X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer-XRF)是一種通過X射線激發(fā)樣品中元素的特征X熒光射線，探測其光子能量和數(shù)量來進行定性、定量分析，來實現(xiàn)快速、無損檢測的分析儀器。江蘇一六儀器有限公司一直專注于光譜測厚儀的研發(fā)和生產(chǎn)，近些年服務(wù)了眾多客戶，獲得了一直好評。今天就跟著光譜測厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器來了解一下XTU系列的光譜測厚儀吧。

　　XTU系列光譜測厚儀，采用下照式C型腔體設(shè)計，不但可以測量各種微小樣品，即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量，是一款測量涂鍍層成分及厚度性價比高、適用性強的機型.該系列儀器適用于平面、微小樣品或者微凹槽曲面深度30mm以內(nèi)的樣品涂鍍層檢測。

　　快速精準(zhǔn)移動定位：高精密微型移動滑軌，10-30mm(X-Y)/圈，精度0.005mm;

　　微焦X射線裝置：檢測面積可小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件;

　　高效率正比接收器：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩(wěn)定性;

　　變焦裝置及算法：可對各種異性凹槽進行檢測，凹槽深度測量范圍可達0-30mm;

　　對焦方便：下照式設(shè)計可以快速定位對焦樣品;

　　以上就是光譜測厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器給大家整理的全部內(nèi)容，如果大家想要了解更多關(guān)于光譜測厚儀的內(nèi)容，歡迎咨詢我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)。公司產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用于環(huán)保、涂鍍層、糧食、地質(zhì)地礦、電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造領(lǐng)域。