市電升成高壓到射線管，利用高速電子撞擊靶材產生原級X射線，原級X射線經過聚焦、濾光、準直后打到樣品上，激發(fā)出各種元素的特征X射線，接收器接收后，對數(shù)據(jù)進行數(shù)模轉換，由計算機進行定性、定量分析。通過檢測到的光子數(shù)量，可以對被測物進行定量分析。但是實際分析中很多學者和廠家難以解決以下幾個技術難點，跟著X熒光光譜測厚儀生產廠家一六儀器來了解一下吧。

　　定量分析技術難點一：射線具有一定的穿透能力，由圖中可以看出，每一層的特征X射線在出射過程中，都會產生相互的干擾，例如：C層的特征射線在進入到接收器以前，將收到B、A兩層的吸收和增強效應的影響。

　　定量分析技術難點二：要計算每一層的熒光強度與鍍層厚度之間的關系，將是一個非常復雜的計算公式，如下式：

　　定量分析難點三

　　隨著鍍層層數(shù)或者元素種類的增加，越靠近內層的鍍層或者元素檢測誤差越大;同時外層鍍層元素也將受到內層的影響，測試精度也將大大下降。為解決多鍍層多元素的影響，往往在實際的應用中，考慮更多的影響元素迭代算法(即Fp、EFp法)同時，采用實際相近的涂鍍層、成分的樣品做比較測量(即采用標準曲線法對比測試的方法)，這樣可以相應減少各層各元素之間干擾所引起的測試精度的問題。

　　很多學者無法完整考慮到里面的復雜關系，而且隨著計算機計算能力的發(fā)展，算法還在繼續(xù)完善和演進。

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