上海復(fù)享光學(xué)股份有限公司
一種利用顯微角分辨光譜系統(tǒng)對透鏡類樣品進(jìn)行聚焦能力表征的方法
檢測樣品:透鏡類樣品
檢測項(xiàng)目:聚焦能力
方案概述:本文針對15mm焦距單透鏡樣品,利用ARMS顯微角分辨光譜系統(tǒng)的角分辨特性,控制入射光的角度,表征透鏡的聚焦能力。通過ARMS系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)0度定角度入射,并利用CCD相機(jī)和電控掃描臺,獲取超透鏡在不同深度的兩維光場強(qiáng)度,并重構(gòu)為三維場強(qiáng)分布。圖2展示了單透鏡樣品光場強(qiáng)度的截面圖。據(jù)此,可以分析透鏡類樣品的聚焦能力。
ARMS 在超透鏡研究中的應(yīng)用
一種利用顯微角分辨光譜系統(tǒng)對透鏡類樣品進(jìn)行聚焦能力表征的方法
超透鏡 超表面 聚焦能力 角分辨光譜 光場強(qiáng)度
【概述】當(dāng)前,超透鏡(Metalens)是超表面(Metasurface)領(lǐng)域的研究熱點(diǎn)之一。相比于傳統(tǒng)透鏡,超透鏡既提供了基于相位的全新設(shè)計(jì)手段,又支持了基于半導(dǎo)體平面加工的制備工藝,從而*兼容微電子產(chǎn)業(yè)(圖1)。由于這些優(yōu)點(diǎn),超透鏡技術(shù)的發(fā)展將能夠促進(jìn)新型檢測技術(shù)的突破,并在智能終端平臺實(shí)現(xiàn)廣泛的應(yīng)用。
圖2,單透鏡聚焦能力分析示意圖 |
圖3 分別展示了單透鏡在白光及單色光(808nm)入射條件下的光場強(qiáng)度分布。其中,左圖為 XZ 截面光場強(qiáng)度分布,右圖為 Z=230, 300, 400, 500μm 時(shí)的 XY 截面光場強(qiáng)度分布。通過對比可以清晰地看出,白光入射條件下的焦點(diǎn)位置在 300μm,單色光入射條件下的焦點(diǎn)位置在 230μm。不同波長的焦點(diǎn)位置不同反映了透鏡的色散特性。
圖4,復(fù)享光學(xué)的 ARMS 顯微角分辨光譜系統(tǒng) |
【參考文獻(xiàn)】
? 圖1左來源于 “Jared Sisler/Harvard SEAS”
? 圖1右上來源于《Photonic Crystals-Molding the Flow of Light(Second Edition)》
? 圖1右下來源于“Second Bay Studios/Harvard SEAS”
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