上海復(fù)享光學(xué)股份有限公司
一種利用顯微角分辨光譜系統(tǒng)對(duì)透鏡類(lèi)樣品進(jìn)行聚焦能力表征的方法
檢測(cè)樣品:透鏡類(lèi)樣品
檢測(cè)項(xiàng)目:聚焦能力
方案概述:本文針對(duì)15mm焦距單透鏡樣品,利用ARMS顯微角分辨光譜系統(tǒng)的角分辨特性,控制入射光的角度,表征透鏡的聚焦能力。通過(guò)ARMS系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)0度定角度入射,并利用CCD相機(jī)和電控掃描臺(tái),獲取超透鏡在不同深度的兩維光場(chǎng)強(qiáng)度,并重構(gòu)為三維場(chǎng)強(qiáng)分布。圖2展示了單透鏡樣品光場(chǎng)強(qiáng)度的截面圖。據(jù)此,可以分析透鏡類(lèi)樣品的聚焦能力。
ARMS 在超透鏡研究中的應(yīng)用
一種利用顯微角分辨光譜系統(tǒng)對(duì)透鏡類(lèi)樣品進(jìn)行聚焦能力表征的方法
超透鏡 超表面 聚焦能力 角分辨光譜 光場(chǎng)強(qiáng)度
【概述】當(dāng)前,超透鏡(Metalens)是超表面(Metasurface)領(lǐng)域的研究熱點(diǎn)之一。相比于傳統(tǒng)透鏡,超透鏡既提供了基于相位的全新設(shè)計(jì)手段,又支持了基于半導(dǎo)體平面加工的制備工藝,從而*兼容微電子產(chǎn)業(yè)(圖1)。由于這些優(yōu)點(diǎn),超透鏡技術(shù)的發(fā)展將能夠促進(jìn)新型檢測(cè)技術(shù)的突破,并在智能終端平臺(tái)實(shí)現(xiàn)廣泛的應(yīng)用。
圖2,單透鏡聚焦能力分析示意圖 |
圖3 分別展示了單透鏡在白光及單色光(808nm)入射條件下的光場(chǎng)強(qiáng)度分布。其中,左圖為 XZ 截面光場(chǎng)強(qiáng)度分布,右圖為 Z=230, 300, 400, 500μm 時(shí)的 XY 截面光場(chǎng)強(qiáng)度分布。通過(guò)對(duì)比可以清晰地看出,白光入射條件下的焦點(diǎn)位置在 300μm,單色光入射條件下的焦點(diǎn)位置在 230μm。不同波長(zhǎng)的焦點(diǎn)位置不同反映了透鏡的色散特性。
圖4,復(fù)享光學(xué)的 ARMS 顯微角分辨光譜系統(tǒng) |
【參考文獻(xiàn)】
? 圖1左來(lái)源于 “Jared Sisler/Harvard SEAS”
? 圖1右上來(lái)源于《Photonic Crystals-Molding the Flow of Light(Second Edition)》
? 圖1右下來(lái)源于“Second Bay Studios/Harvard SEAS”
? Chen, W. T., Zhu, A. Y., Sanjeev, V., Khorasaninejad, M., Shi, Z., & Lee, E., et al. "A broadband achromatic metalens for focusing and imaging in the visible." Nature Nanotechnology (2018).
? Tseng, M. L., Hsiao, H. H., Chu, C. H., Chen, M. K., Sun, G., et al. "Metalenses: Advances and Applications." Advanced Optical Materials (2018).
? Liang, H., Lin, Q., Xie, X., Sun, Q., Wang, Y., Zhou, L., et al. "An Ultra-high Numerical Aperture Metalens at Visible Wavelengths." arXiv preprint arXiv (2018).
? Yang, H., Li, G., Su, X., Cao, G., Zhao, Z., Chen, X., et al. "Reflective metalens with sub-diffraction-limited and multifunctional focusing." Scientific Reports (2017).
? Lin, Dianmin, Fan, P., Hasman, E., et al. "Dielectric gradient metasurface optical elements."science (2014).
相關(guān)產(chǎn)品清單
溫馨提示:
1.本網(wǎng)展示的解決方案僅供學(xué)習(xí)、研究之用,版權(quán)歸屬此方案的提供者,未經(jīng)授權(quán),不得轉(zhuǎn)載、發(fā)行、匯編或網(wǎng)絡(luò)傳播等。
2.如您有上述相關(guān)需求,請(qǐng)務(wù)必先獲得方案提供者的授權(quán)。
3.此解決方案為企業(yè)發(fā)布,信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由上傳企業(yè)負(fù)責(zé),化工儀器網(wǎng)對(duì)此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
最新解決方案
- GNR殘余應(yīng)力分析儀EDGE對(duì)激光水平儀的測(cè)試
- MLCC用內(nèi)電極鎳漿的分散解決方案
- LISICO LS-1分散均質(zhì)分析測(cè)試儀在MLCC用鈦酸鋇漿料的應(yīng)用
- 紅外光譜法分析光刻膠的主成分
- 微波馬弗爐處理—火焰原子吸收光譜法測(cè)定廢舊電路板中金銀鉑鈀
- 【CEM】電子設(shè)備組件樣品制備用于IEC 62321-7-2:2017方法六價(jià)鉻含量分析
- 如何測(cè)試電極涂層在電極表面的附著牢度
- 電感耦合等離子體質(zhì)譜在半導(dǎo)體高純材料分析中的應(yīng)用
- TRILOS超高壓納米均質(zhì)機(jī)在導(dǎo)電鎳漿中的應(yīng)用
- SIEVERS*分析儀應(yīng)用于微電子行業(yè)
該企業(yè)的其他方案
- 一種可實(shí)現(xiàn)表面等離子體共振傳感檢測(cè)的宏觀角分辨光譜定制系統(tǒng)及解決方案
- 油品成分分析
- 利用超快激光對(duì)鈣鈦礦納米晶粒的自發(fā)輻射增強(qiáng)效應(yīng)(ASE)的光致熒光角分辨光譜表征
- NIR1700 近紅外光譜儀 | 水果快速分選
- PG2000-Pro 背照式光譜儀 |太陽(yáng)輻照度測(cè)量
- 對(duì)一種基于光致三穩(wěn)態(tài)手性開(kāi)關(guān)及分段調(diào)控膽甾相液晶的色彩顯示的寬譜段反射光譜表征
- 基于光纖光譜儀及紫外差分吸收光譜技術(shù)的煙氣排放檢測(cè)方案對(duì)污染氣體的吸收光譜表征
- 一種利用復(fù)享光學(xué)顯微拉曼系統(tǒng)在微米尺度下對(duì)石墨烯層數(shù)進(jìn)行鑒別的方法
- K-Sens 拉曼光譜儀 | 寶石鑒定
- 對(duì)一種基于Au納米陣列表面等離激元的光電探測(cè)器的微區(qū)光譜表征
業(yè)界頭條
- 常州鎮(zhèn)海煉化實(shí)驗(yàn)室氣相色譜中標(biāo)結(jié)果公告
-
項(xiàng)目名稱(chēng):鎮(zhèn)海煉化實(shí)驗(yàn)室氣相色譜2臺(tái),項(xiàng)目編號(hào):0712-244042403020,招標(biāo)范圍:物資采...
- 冷凍超薄切片機(jī)采購(gòu)項(xiàng)目中標(biāo)結(jié)果公告
- 全自動(dòng)化有機(jī)合成與制備平臺(tái)中標(biāo)結(jié)果公告
- 閉循環(huán)低溫強(qiáng)磁場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)中標(biāo)結(jié)果公告
- 畫(huà)面自動(dòng)檢查機(jī)中標(biāo)結(jié)果公告
- 半自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備中標(biāo)結(jié)果公告
- “第三屆半導(dǎo)體超精密分析技術(shù)及應(yīng)用線(xiàn)上研討會(huì)”即將開(kāi)啟
- 全球首創(chuàng)的新技術(shù)!有助研究高容量環(huán)保型電池