上海復(fù)享光學(xué)股份有限公司
對(duì)基于納米天線的異常反射超表面進(jìn)行寬譜段微區(qū)角分辨光譜表征
檢測(cè)樣品:超表面
檢測(cè)項(xiàng)目:異常反射
方案概述:在可見光區(qū),上天線主要通過與下天線的配合而產(chǎn)生異常反射,下天線又與基底配合,產(chǎn)生相位變化,導(dǎo)致近紅外區(qū)的異常反射。作者結(jié)合角分辨衍射光譜測(cè)量及電磁場(chǎng)強(qiáng)度分析等手段對(duì)這一結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)及工作原理進(jìn)行了研究,成功的驗(yàn)證了在可見及近紅外區(qū)域的超寬帶高角度異常反射現(xiàn)象。
ARMS 在超表面及納米天線研究中的應(yīng)用
對(duì)基于納米天線的異常反射超表面進(jìn)行寬譜段微區(qū)角分辨光譜表征
超表面 超構(gòu)材料 納米天線 異常反射 角分辨光譜
【概述】相比于傳統(tǒng)的光學(xué)元件,超表面能夠在亞波長尺度的表面創(chuàng)建相位面。通過超表面的設(shè)計(jì),可以實(shí)現(xiàn)偏振轉(zhuǎn)換、異常反射以及完美吸收等諸多功能,為超薄納米光致偏振元件的發(fā)展鋪平了道路,如異常光偏轉(zhuǎn)器、透鏡、波片、全息圖、渦旋光束發(fā)生器、光波導(dǎo)器件等。
圖2,超表面超寬帶高角度衍射特性表征 |
為了實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證上述超表面結(jié)構(gòu)的性能,作者采用 傅里葉變換角分辨光譜法(FT-ARS)進(jìn)行了小衍射角的表征,獲取了±60°,400~1450nm 的衍射光譜,實(shí)現(xiàn)了波長及角度相關(guān)的遠(yuǎn)場(chǎng)強(qiáng)度分布表征(圖3)。圖3b 模擬結(jié)果與 圖3a 測(cè)量結(jié)果數(shù)據(jù)吻合,證實(shí)了所設(shè)計(jì)的超表面能夠獲得可見到近紅外的超寬帶高角度衍射特性。在 440~780nm 可見波段和 964~1300nm 近紅外波段,其異常反射效率均超過 50%,其反射效率峰值分別為 72%@550nm 和 72%@1150nm。
【總結(jié)】綜上所述,作者利用一對(duì)相互關(guān)聯(lián)的可見和近紅外納米天線進(jìn)行垂直整合,獲取可實(shí)現(xiàn)超寬帶高角度異常反射的超表面結(jié)構(gòu),并對(duì)其進(jìn)行了表征。本文所設(shè)計(jì)的超表面的工作帶寬幾乎是傳統(tǒng)使用單一天線的兩倍,其反射光以單衍射級(jí)進(jìn)行高角分辨、超過 1000nm 的超寬光譜帶寬范圍的異常反射?;谄涑瑢拵挼娘@著特性,預(yù)計(jì)在-70° 的大反射角下,異常反射的效率仍保持 65% 以上。
【參考文獻(xiàn)】
? Gao, Song, et al. "Vertically Integrated Visible and Near-Infrared Metasurfaces Enabling an Ultra-Broadband and Highly Angle-Resolved Anomalous Reflection." Nanoscale (2018).
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