產(chǎn)品展示
FISCHERSCOPE XDL210X-RAY鍍層測(cè)厚儀 射線分析儀
【簡(jiǎn)單介紹】
【詳細(xì)說明】
X-RAY鍍層測(cè)厚儀又名射線分析儀 菲希爾x-ray射線鍍層測(cè)厚儀鍍層分析儀 x射線多鍍層測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210
技術(shù)參數(shù)表如下:
菲希爾x-ray射線鍍層測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210
X 射線熒光光譜儀,采用手動(dòng)或自動(dòng)方式,
測(cè)量和分析印刷線路板、防護(hù)及裝飾性鍍層
及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。
FISCHERSCOPE X-RAY XDL
2 FISCHERSCOPE X-RAY XDL
菲希爾x-ray射線鍍層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介
FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從
大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類
似,它尤其適合無損測(cè)量鍍層厚度及材料分析,同時(shí)還能全自動(dòng)測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的零
部件及印刷線路板。
比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率,這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。由于采用了Fischer 基本
參數(shù)法,無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析
和測(cè)量。zui多可同時(shí)測(cè)量從氯(17)到鈾(92)中的24 種元素。
XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。
XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
菲希爾x-ray射線鍍層測(cè)厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:
?測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
?測(cè)量薄鍍層,例如裝飾鉻
?測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
?全自動(dòng)測(cè)量,如測(cè)量印刷線路板
?分析電鍍?nèi)芤?/span>
菲希爾x-ray射線鍍層測(cè)厚儀設(shè)計(jì)理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設(shè)計(jì)為界面友好的臺(tái)式測(cè)量?jī)x器系列。我們會(huì)根據(jù)樣
品平臺(tái)的運(yùn)行模式以及固定或者可調(diào)節(jié)的Z 軸系統(tǒng)來設(shè)定不同型號(hào)的儀器以滿足實(shí)際
應(yīng)用的需求。
XDL210:平面樣品平臺(tái),固定的Z 軸系統(tǒng)
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強(qiáng)大的放大功能,可以定位測(cè)量位置。通過視頻
窗口,還可以實(shí)時(shí)觀察測(cè)量過程和進(jìn)度。配有馬達(dá)驅(qū)動(dòng)X-Y 樣品平臺(tái)的儀器還配備了
激光點(diǎn),可以輔助定位并快速對(duì)準(zhǔn)測(cè)量位置。
測(cè)量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設(shè)計(jì),可以測(cè)量比測(cè)量箱更長(zhǎng)和更寬的樣品。
例如大型的線路板。
所有的操作,測(cè)量數(shù)據(jù)的計(jì)算,以及測(cè)量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示都是通過強(qiáng)大而界面友
好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。
XDL 型光譜儀是安全而保護(hù)全面的測(cè)量?jī)x器,型式許可符合德國(guó)“Deutsche
Röntgenverordnung-RöV”法規(guī)規(guī)定。
XDL
3
菲希爾x-ray射線鍍層測(cè)厚儀通用規(guī)范
用途
能量色散X 射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用來測(cè)量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu),分析合金和微量
組分。
元素范圍zui多同時(shí)測(cè)量從氯(Cl 17)到鈾(U 92)之間的24 種元素
設(shè)計(jì)理念臺(tái)式儀器,測(cè)量門向上開啟
測(cè)量方向從上到下
X 射線源
X 射線源帶鈹窗口的鎢管
高壓三種高壓: 30 kV,40 kV,50 kV,可調(diào)整
孔徑(準(zhǔn)直器) Ø 0.3 mm (可選:圓形Ø 0.1 mm; Ø 0.2 mm;長(zhǎng)方形0.3 mm x 0.05 mm)
測(cè)量點(diǎn)
取決于測(cè)量距離及使用的準(zhǔn)直器大??;實(shí)際的測(cè)量點(diǎn)大小與視頻窗口中顯示的*。
zui小的測(cè)量點(diǎn)大小約Ø 0.16mm.
測(cè)量距離,如測(cè)量腔體內(nèi)部
0 ~ 80 mm,未校準(zhǔn)范圍,使用保護(hù)的DCM 功能
0 ~ 20 mm,已校準(zhǔn)范圍,使用保護(hù)的DCM 功能
X 射線探測(cè)
X 射線接收器比例接收器
樣品定位
視頻顯微鏡
高分辨 CCD 彩色攝像頭,用于查看測(cè)量位置
手動(dòng)調(diào)焦或自動(dòng)聚焦
十字線刻度和測(cè)量點(diǎn)大小經(jīng)過校準(zhǔn)
測(cè)量區(qū)域照明亮度可調(diào)
激光點(diǎn)用于定位樣品
放大倍數(shù) 20x ~ 180x (光學(xué)變焦: 20x ~ 45x; 數(shù)字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)
樣品臺(tái) XDL 210
設(shè)計(jì)固定式樣品平臺(tái)
zui大移動(dòng)范圍 -
X/Y 平臺(tái)移動(dòng)速度 -
X/Y 平臺(tái)移動(dòng)重復(fù)精度 -
Z 軸移動(dòng)范圍 -
可用樣品放置區(qū)域 463 x 500 mm
樣品zui大重量 20 kg
樣品zui大高度 155/90/25 mm
激光定位點(diǎn) -
FISCHERSCOPE X-RAY XDL
鍍層厚度材料分析顯微硬度材料測(cè)試
電氣參數(shù)
電壓,頻率 AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz
功率zui大 120 W (不包括計(jì)算機(jī))
保護(hù)等級(jí) IP40
儀器規(guī)格
菲希爾x-ray射線鍍層測(cè)厚儀外部尺寸寬x 深x 高[mm]:570 x 760 x 650
重量 XDL210:90 kg;XDL220:95 kg;XDL230:105 kg;XDL240:120 kg
內(nèi)部測(cè)量室尺寸寬x 深x 高[mm]: 460 x 495 (參考“樣品zui大高度”部分的說明)
環(huán)境要求
操作溫度 10°C – 40°C / 50°F – 104°F
儲(chǔ)藏或運(yùn)輸溫度 0°C – 50°C / 32°F – 122°F
空氣濕度 ≤ 95 %,無結(jié)露
計(jì)算系統(tǒng)
計(jì)算機(jī)帶擴(kuò)展卡的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)
軟件
標(biāo)準(zhǔn): WinFTM® V.6 LIGHT
可選: WinFTM® V.6 BASIC,PDM,SUPER
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
CE 合格標(biāo)準(zhǔn) EN 61010
X 射線標(biāo)準(zhǔn) DIN ISO 3497 和 ASTM B 568
型式許可
安全而保護(hù)全面的測(cè)量?jī)x器,型式許可符合德國(guó)“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”
法規(guī)規(guī)定。
如有特殊要求,可于Fischer 磋商,定制特殊的XDL 型號(hào)。更多選項(xiàng)和,請(qǐng)致電蘇州圣光儀器有限公司。
產(chǎn)品搜索
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聯(lián)系方式
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