產(chǎn)品展示
FISCHER德國菲希爾x射線測試儀
【簡單介紹】
品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 |
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【詳細(xì)說明】
HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗。通過對所有相關(guān)過程包括X射線熒光測量法的處理和使用了的軟件和硬件技術(shù),F(xiàn)ISCHER公司的X射線儀器具有其*的特點。 *的WinFTM®(版本3(V.3)或版本6(V.6))軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測量精度的情況下測量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng),同時可以對包含多達(dá)24種元素的材料進(jìn)行分析(使用WinFTM® V.6軟件) X射線測厚儀典型的應(yīng)用范圍如下: 單一鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。 二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。 三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。 雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。 雙鍍層,其中一個鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。 zui多24種鍍層(使用WinFTM® V.6軟件)。 分析多達(dá)4種(或24種-使用V.6軟件)元素。 分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。 |
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| FISCHERSCOPE |
測量方向 | text |
X-射線管型號 | text |
可調(diào)節(jié)的高壓 | |
開槽的測量箱體 | |
基本Ni濾波器 | |
接收器(Co) | |
數(shù)準(zhǔn)器數(shù)目 | text |
z-軸 | text |
測量臺類型 | text |
測試點的放大倍率 | text |
DCM方法 | |
WinFTM® 版本 | text |
操作系統(tǒng): | |
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