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          首頁>>北京中顯恒業(yè)儀器儀表有限公司>>產(chǎn)品展示>>澤攸科技電子顯微鏡>>TEM原位解決方案

          • 原位解決方案力學(xué)-電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià):面議

            原位解決方案力學(xué)-電學(xué)測量系統(tǒng)(定量力+電+三維操縱)在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成納牛力傳感器,實(shí)現(xiàn)高精度的力學(xué)及電學(xué)測量。
            型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對(duì)比
            原位解決方案透射電鏡原位樣品桿
            2024/9/23 16:02:45309
          • 原位解決方案-低溫電學(xué)測試系統(tǒng) 參考價(jià):面議

            原位解決方案-低溫電學(xué)測試系統(tǒng)(非定量力+電+低溫+三維操縱)在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成低溫環(huán)境控制單元,從而實(shí)現(xiàn)在透射電鏡中進(jìn)行原位低溫電學(xué)測量的目的。
            型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對(duì)比
            原位解決方案低溫電學(xué)測試系統(tǒng)透射電鏡原位樣品桿
            2024/9/23 16:01:05298
          • 原位解決方案-光電性質(zhì)測試系統(tǒng) 參考價(jià):面議

            原位解決方案-光電性質(zhì)測試系統(tǒng)(非定量力+電+光+三維操縱)在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成光纖單元,配合外接光譜儀或激光器實(shí)現(xiàn)光電測量或者CL測量。
            型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對(duì)比
            透射電鏡原位解決方案原位樣品桿
            2024/9/23 15:58:44306
          • 原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng) 參考價(jià):面議

            原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng)(非定量力+電+光+加熱)是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng),使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場環(huán)境...
            型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對(duì)比
            多場測量系統(tǒng)透射電鏡原位樣品改
            2024/9/23 15:56:36287
          • 原位解決方案-高溫力學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià):面議

            原位解決方案-高溫力學(xué)測量系統(tǒng)(定量力+電+三維操縱+加熱)同時(shí)集成了力學(xué)測量模塊及MEMS芯片模塊,可以在對(duì)樣品1000℃加熱的同時(shí)進(jìn)行定量的力學(xué)測量。實(shí)現(xiàn)了...
            型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對(duì)比
            原位解決方案透射電鏡原位樣品桿
            2024/9/23 15:54:56280
          • 原位解決方案-樣品桿預(yù)抽存儲(chǔ)系統(tǒng) 參考價(jià):面議

            原位解決方案-樣品桿預(yù)抽存儲(chǔ)系統(tǒng)PicoFemto透射電子顯微鏡樣品桿預(yù)抽存儲(chǔ)系統(tǒng)(T-station)由內(nèi)置進(jìn)口分子泵組、樣品桿預(yù)抽室及觸摸顯示屏組成。
            型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對(duì)比
            澤攸科技抽存儲(chǔ)系統(tǒng)原位解決方案透射電鏡
            2024/9/23 15:53:18363
          • 原位TEM品桿 參考價(jià):面議

            原位TEM品桿,TEM冷凍樣品桿可以使被觀測樣品處于液氮低溫下,減弱了電子束輻照對(duì)樣品的損傷,同時(shí)也能研究材料的低溫結(jié)構(gòu)。
            型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對(duì)比
            澤攸科技透射電鏡原位解決方案
            2024/9/23 15:50:56280
          • TEM原位拉伸與360°水平旋轉(zhuǎn)樣樣品桿 參考價(jià):面議

            TEM原位拉伸與360°水平旋轉(zhuǎn)樣樣品桿PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿,可在室溫條件下對(duì)材料施加拉力,結(jié)合透射電鏡原位觀察材料結(jié)構(gòu)的變化。
            型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對(duì)比
            透射電鏡
            2024/9/23 15:48:35646
          • 原位MEMS加熱電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià):面議

            原位MEMS加熱電學(xué)測量系統(tǒng)透射電子顯微鏡是提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子級(jí)空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。
            型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對(duì)比
            原位解決方案透射電鏡TEM北京中顯
            2024/9/23 15:46:45281
          • 原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià):面議

            PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng),是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊,實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能。
            型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對(duì)比
            原位解決方案北京中顯透射電鏡澤攸科技
            2024/9/23 15:45:04251
          • 原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng) 參考價(jià):面議

            PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng),在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境,實(shí)現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
            型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對(duì)比
            原位解決方案透射電鏡北京中顯
            2024/9/23 15:43:06235
          • 原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng) 參考價(jià):面議

            原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng)PicoFemto透射電子顯微鏡原位TEM-STM測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對(duì)單個(gè)納...
            型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對(duì)比
            澤攸科技透射電鏡原位解決方案北京中顯
            2024/9/23 15:41:16244
          • 原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) 參考價(jià):面議

            PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
            型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對(duì)比
            掃描電鏡澤攸科技北京中顯原位解決方案
            2024/9/23 15:39:32234
          • 原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià):面議

            PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
            型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對(duì)比
            澤攸科技北京中顯掃描電鏡
            2024/9/23 15:37:13241
          • TEM原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià):面議

            TEM原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng) PicoFemto透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng),同時(shí)集成了力學(xué)測量模塊及MEMS芯片模塊,可以在對(duì)樣品1000 ℃加熱的同時(shí)進(jìn)行定量...
            型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對(duì)比
            TEM原位解決掃描電鏡
            2024/9/23 15:34:57270
          • 原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng) 參考價(jià):面議

            MEMS-STM-TEMPicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng),該產(chǎn)品是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng),使研究者可以在透射電子顯微鏡...
            型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對(duì)比
            多場測量系統(tǒng)原位解決方案TEM原位解決方案掃描電鏡
            2024/9/23 15:32:47235

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