飛行時(shí)間質(zhì)譜儀 參考價(jià)：面議
nanoTOF 3+是PHI較新一代的TOF-SIMS，擁有全新外觀、緊湊設(shè)計(jì)，以及更強(qiáng)性能。
PHI 硬X射線光電子能譜儀 參考價(jià)：面議
下一代透明發(fā)光材料使用直徑約為 10nm~50nm 的 納米量子點(diǎn)（QDs）， 結(jié)合使用 XPS（Al Kα X 射線） 和 HAXPES（Cr Kα X 射線...
PHI X射線光電子能譜儀 參考價(jià)：面議
XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy),又稱ESCA (Electron Spectroscopy for Chemica...
動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜儀 參考價(jià)：面議
動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜儀（D-SIMS）是使用一次離子束（通常是Cs源）轟擊樣品表面，而產(chǎn)生二次離子，然后用質(zhì)譜分析儀分析二次離子的質(zhì)荷比（m/q），從而得知元素在樣...
掃描俄歇納米探針 參考價(jià)：面議
PHI 710掃描俄歇納米探針是一臺(tái)設(shè)計(jì)*的高性能的俄歇電子能譜（AES）儀器。該設(shè)備能分析納米級(jí)特征區(qū)域，超薄薄膜和多層結(jié)構(gòu)材料表界面的元素態(tài)和化學(xué)態(tài)信息。作...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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