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當前位置：上海富瞻環(huán)保科技有限公司>>分析儀器>>X射線儀器>> TXRF全反射X射線熒光光譜儀S4 TSTAR
| 價格區(qū)間 | 面議 | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 臺式/落地式 | 應用領域 | 地礦,能源,建材,電子,電氣 |
產品品牌：Bruker
產品型號：S4 TSTAR
S4 TStar — TXRF全反射X射線熒光光譜儀
數十年來，X 射線熒光（XRF）光譜法在多個行業(yè)中被廣泛用于對固體和石油化工樣品進行元素分析，檢測限值低于PPb 量級。TXRF 擴展了XRF 的應用范圍，可以分析液體樣品、懸浮液和膜片中的超微量元素。
優(yōu)異的樣品通用性
S4 TStar 是一種通用性很強的工具，可以分析不同反射載體上的多種類型的樣品。
ICP 只能分析溶解的液體樣品。
圖一：30 毫米石英片：對液體、固體和懸浮液進行元素分析
圖二：2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科學研究
圖三：顯微鏡載玻片：臨床和生物學樣品，直接分析細胞培養(yǎng)物、涂片和切片
圖四：矩形載體：尺寸小于54 毫米，用于膜片、濾片、納米顆粒層定制的反射介質
行業(yè)應用：
· 藥品
檢測活性藥物成分中的催化元素：液體或丸粒中的鉛含量小于0.1 / 0.5ppm
· 食品
糧農組織和世衛(wèi)組織的食品標準：大米中的砷含量小于10 / 40ppb。
· 環(huán)境監(jiān)測
環(huán)境監(jiān)測：地表水，廢水、污泥和核廢液中的污染物含量小于1 / 10ppb。
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