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Omega/Theta - 定制的樣品架用于大型樣品的樣品臺(tái)◇ 用于直徑達(dá)590毫米的大型樣品◇ 大樣品質(zhì)量=30公斤◇ 根據(jù)要求為復(fù)雜的樣品幾何形狀提供額外的...
弗萊貝格 PIDcon bifacial 臺(tái)式雙面電池PID測(cè)試儀用于單面及雙面電池，HIT、Topcon、PERC/PERC+太陽(yáng)能電池、晶體硅太陽(yáng)能電池、微...
少子壽命測(cè)試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+)用于單晶硅錠、硅磚和硅晶圓片的生產(chǎn)和質(zhì)量監(jiān)控。用于HJT、HIT、TOPcon、雙面PERC...
弗萊貝格 便攜式現(xiàn)場(chǎng)PID測(cè)試儀（PIDcheck）便攜式現(xiàn)場(chǎng)PID（電位誘發(fā)衰減）測(cè)試儀，適用于不同類型和尺寸的晶體硅組件，無需拆裝，測(cè)試時(shí)間在8小時(shí)之內(nèi)（測(cè)...
MDPspot少子壽命測(cè)試儀低成本桌面單點(diǎn)測(cè)量硅片或晶磚，用于在不同制備階段表征各種不同的硅樣品，無需內(nèi)置自動(dòng)化。可選手動(dòng)操作的z軸厚度高達(dá)156毫米的硅磚樣品...
MDPlinescan在線少子壽命測(cè)試儀靈活的OEM少子壽命測(cè)試儀器，用于各種不同樣品的少子壽命測(cè)量，從單晶硅磚到多晶硅磚，從生長(zhǎng)的硅片到不同層或金屬化的硅片的...
MDPmap單晶和多晶硅片壽命測(cè)量?jī)xMDPmap被設(shè)計(jì)成一個(gè)緊湊的臺(tái)式非接觸電學(xué)表征工具，用于離線生產(chǎn)控制或研發(fā)，在穩(wěn)態(tài)或短脈沖激勵(lì)（μ-PCD）下，在一個(gè)寬的...
德國(guó)Freiberg Instruments 電阻率測(cè)試儀（RESmap ）德國(guó)Freiberg Instruments 電阻率測(cè)試儀（RESmap ）在對(duì)低電...
晶圓x射線晶體定向儀分揀系統(tǒng)XRD晶圓x射線晶體定向儀分揀系統(tǒng)用于全自動(dòng)分揀、晶體取向、optical notch and flat determination...
Ingot XRD - 晶錠X射線定向儀晶錠XRD有著優(yōu)良的XRD系統(tǒng)，用于單晶晶錠的自動(dòng)定向、傾斜和對(duì)準(zhǔn)研磨。SiC | Si| AlN | GaAs | Q...
Omega/Theta XRD Mapping面掃功能儀Mapping面掃臺(tái)允許使用受控的網(wǎng)格模式來探索整個(gè)樣品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地...
晶錠粘接轉(zhuǎn)移（堆垛 stacking）系統(tǒng)晶體（如SiC的晶錠）。這些需要在線切過程之前進(jìn)行定向?qū)?zhǔn)。Freiberg儀器公司提供了一個(gè)方便的支架系統(tǒng)，使用Om...
Omega/Theta - 搖擺曲線測(cè)量?jī)x測(cè)量搖擺曲線意味著在Theta-scan模式下進(jìn)行測(cè)量，這需要一個(gè)測(cè)角儀。一個(gè)雙晶體被帶入主光束路徑，以減少光譜寬度和...
XRD-SDCOM小晶體樣品臺(tái)式X射線單晶定向儀在晶圓片的注入和光刻過程中，需要平面或凹槽作為定位標(biāo)記。切割過程中，晶片必須正確地對(duì)準(zhǔn)晶圓片上易于切割的晶格面。...
XRD-OEM在線X射線衍射儀可測(cè)量材料：硅，碳化硅，砷化鎵及更多樣品尺寸：鋼錠直徑450毫米冷卻：空氣，低噪音可能的用途：在鋸/磨/平/缺口檢測(cè)前對(duì)大型晶錠進(jìn)...
德國(guó)弗萊貝格 Quatrz XRD 石英晶體衍射儀德國(guó)弗萊貝格儀器Quatrz XRD——石英晶體X射線衍射儀主要應(yīng)用于對(duì)石英棒、硅片和坯料進(jìn)行生產(chǎn)質(zhì)量控制。而...
Omega/Theta XRD - X射線晶體定向儀Omega/Theta XRD用于超快速的晶體定向、生產(chǎn)中的晶體排列、質(zhì)量控制、搖擺曲線測(cè)量、材料研究等。S...
DDCOM X射線單晶定向儀確定單晶的晶格取向，使用Omega掃描方法的超高速晶體定位，測(cè)量立方晶體任意未知取向的測(cè)定，特別設(shè)計(jì)用于點(diǎn)陣方向的方位設(shè)置和標(biāo)記。氣...
德國(guó)弗萊貝格--MDpicts 微波探測(cè)光誘導(dǎo)電流瞬態(tài)譜儀微波探測(cè)的光感應(yīng)電流瞬態(tài)圖譜檢測(cè)，非接觸且無損傷，用于溫度依賴的少數(shù)載流子壽命測(cè)量以及半導(dǎo)體的界面陷阱...
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