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當(dāng)前位置：上海富瞻環(huán)?？萍加邢薰?/a>>>分析儀器>>色譜、質(zhì)譜、光譜、波譜>> 02美國(guó)PHI 高性能飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)02
品 牌ULVAC-PHI
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時(shí)間：2024-11-05 13:46:03瀏覽次數(shù)：73次
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賽默飛Exactive GC Orbitrap GC-MS系統(tǒng)
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
TOF-SIMS 中，根據(jù)分子結(jié)構(gòu)反映的質(zhì)譜，能更詳細(xì)的對(duì)化學(xué)結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析。
產(chǎn)品介紹：
01. TRIFTTM 三次聚焦分析儀適用於無(wú)論是平面或非平面及形狀復(fù)雜的樣品
02. 革新的離子以實(shí)現(xiàn)高精度的測(cè)量
03. 多種濺射離子實(shí)現(xiàn)三維成像的深度分析
04. SmartSoft™-TOF 軟件，使得樣品分析操作更簡(jiǎn)單容易
05. 多功能樣晶處理
06. 雙束電荷中和
化學(xué)結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析。
測(cè)量之后，任伺區(qū)域的質(zhì)譜都可以在後數(shù)據(jù)處理時(shí)提取出來(lái)。
TOF-SIMS 中，經(jīng)過(guò)反復(fù)測(cè)量和濺射，得到深層的結(jié)構(gòu)。
這段期間內(nèi)，所有的質(zhì)譜都會(huì)被保存，完成測(cè)量后，任意深度的質(zhì)譜都可以在後數(shù)據(jù)處理時(shí)提取出來(lái)。
深度概況的數(shù)據(jù)源于在深度改變時(shí)樣品結(jié)構(gòu)的變化，在進(jìn)行完深度分析後不僅可以擁有內(nèi)部的信息，
三維構(gòu)筑的信息也可以得到。
提供了兩種類型的標(biāo)準(zhǔn)樣晶托，有直徑25mm ，樣晶在樣晶托背面安裝并固定( Back-mount) ，
能放個(gè)樣品的樣品托，方便對(duì)準(zhǔn)樣晶高度。也有直接在樣晶托正面安裝樣晶，可放置和樣晶托一般
用液氮冷卻和用加熱器加熱樣晶臺(tái)，在-150t 200t 之間可控。樣晶托上配有溫度感應(yīng)裝置，當(dāng)樣晶
在進(jìn)樣室開始，軟件即馬上顯示實(shí)時(shí)溫度回讀。另外也可以選配比較高可達(dá)600t只做加熱的樣晶托。
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