目錄:靈柯精密儀器(山東)有限公司>>SMPS納米顆粒物測(cè)量系統(tǒng)>>納米粒子測(cè)量與納米顆粒物分析>> Palas-U-SMPS 1700通用掃描遷移率粒度儀
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更新時(shí)間:2024-12-20 10:11:15瀏覽次數(shù):25評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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Palas-U-SMPS 1700通用掃描遷移率粒度儀:
2至400 nm粒徑分布
連續(xù)和快速掃描的測(cè)量原理
高分辨率,多達(dá)128個(gè)分類器/衰減
適用于高達(dá)10^8顆粒/立方厘米的濃度
通用連接其他制造商的DMA和納米粒子計(jì)數(shù)器
圖形顯示測(cè)量值
直觀操作,使用7英寸觸摸屏和GUI
集成數(shù)據(jù)記錄儀
支持多種接口和遠(yuǎn)程訪問
低維護(hù)
功能可靠
減少您的運(yùn)營(yíng)費(fèi)用
適用于高氣溶膠濃度的Palas-U-SMPS 1700通用掃描遷移率粒度儀有兩種版本。 U-SMPS帶有短分類柱(1700型),特別適合2-400 nm范圍內(nèi)的高精度粒度分布測(cè)量。Palas®U-SMPS系統(tǒng)包括一個(gè)分類器[在ISO 15900中定義稱為差動(dòng)遷移率分類器(DEMC),也稱為差動(dòng)遷移率分析儀(DMA)],根據(jù)氣溶膠顆粒電遷移率選擇氣溶膠顆粒并傳遞到出口。然后,在下游的Charme®氣溶膠靜電計(jì)中測(cè)量這些粒子攜帶的電荷。
氣溶膠靜電計(jì)的一個(gè)主要優(yōu)點(diǎn)是可以進(jìn)行非常快速的測(cè)量。但是,這種方法需要很高的成本。因此,其適用性被限制于高氣溶膠濃度(例如,燃燒過程或顆粒發(fā)生器的下游)??梢酝ㄟ^物理參數(shù)直接追溯每時(shí)間單位(流量)的電荷測(cè)量值。其結(jié)果是,此方法主要用作凝結(jié)粒子計(jì)數(shù)器(例如UF-CPC)校準(zhǔn)期間的參考。
U-SMPS使用觸摸屏圖形用戶界面進(jìn)行操作。可以在短短30秒內(nèi)執(zhí)行單粒子分布掃描,或者在多達(dá)128個(gè)尺寸通道中執(zhí)行掃描,在此期間,DEMC分類器中的電壓連續(xù)變化,從而導(dǎo)致每個(gè)尺寸通道的計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)效率更高。集成的數(shù)據(jù)記錄器允許在設(shè)備上線性和對(duì)數(shù)顯示測(cè)量值。隨附的評(píng)估軟件提供各種數(shù)據(jù)評(píng)估(豐富的統(tǒng)計(jì)和平均值計(jì)算)和導(dǎo)出功能。
U-SMPS通常作為獨(dú)立設(shè)備運(yùn)行,但也可以使用各種接口(USB,LAN,WLAN,RS-232 / 485)連接到計(jì)算機(jī)或網(wǎng)絡(luò)。 Palas®U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA,CPC和氣溶膠靜電計(jì)。
U-SMPS的準(zhǔn)確尺寸測(cè)定和可靠性能尤其重要,特別是對(duì)于校準(zhǔn)。所有組件都必須通過嚴(yán)格的質(zhì)量保證測(cè)試,并在內(nèi)部組裝。
圖1展示U-SMPS的工作原理:
圖1:使用氣溶膠靜電計(jì)作為濃度測(cè)量裝置的通用掃描遷移率粒度儀(U-SMPS)的工作原理
氣溶膠在進(jìn)入分類器(DEMC列)之前經(jīng)過調(diào)節(jié)。可選的干燥器(例如硅膠,Nafion)可以去除顆粒中的水分。使用雙極中和劑(例如Kr 85)來確保測(cè)定的氣溶膠電荷分布。為了去除大于分類器尺寸范圍的顆粒,需要在DEMC的入口處使用撞擊器。
然后,氣溶膠通過入口導(dǎo)入DEMC色譜柱。沿著外部電極的氣溶膠流在此與護(hù)套氣流仔細(xì)合并。重要的是在此處避免任何湍流,以確保層流。電極的表面在光滑度和公差方面必須具有高的質(zhì)量。
鞘空氣是干燥、無顆粒的載氣(通常是空氣),其體積大于連續(xù)在閉環(huán)中循環(huán)的氣溶膠體積。鞘空氣與樣品空氣的體積比決定傳遞函數(shù),因此決定DEMC的分離能力。通過施加電壓,在內(nèi)外電極之間會(huì)產(chǎn)生一個(gè)徑向?qū)ΨQ的電場(chǎng)。內(nèi)電極在末端帶有小縫隙,帶正電。通過平衡每個(gè)粒子上的電場(chǎng)力及其在電場(chǎng)中的空氣動(dòng)力學(xué)阻力,帶負(fù)電的粒子被轉(zhuǎn)移到正電極。根據(jù)它們的電遷移率,一些顆粒會(huì)穿過狹縫并離開DEMC。
在工作中,電壓和電場(chǎng)因此而連續(xù)變化。結(jié)果,具有變化遷移率的顆粒會(huì)離開DEMC,并且由納米顆粒計(jì)數(shù)器 – 在此顯示為氣溶膠靜電計(jì)(例如Palas®Charme®)連續(xù)測(cè)量。
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