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NexION 1000G珀金埃爾默電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀珀金埃爾默NexION® 1000G電感耦合等離子體質(zhì)譜儀憑借其超短貨期、高效穩(wěn)定的特點(diǎn),...
LAMBDA 850+ 珀金埃爾默紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)LAMBDA 850+配置水平的R6872無(wú)格柵PMT增管檢測(cè)器,是一款專(zhuān)為在紫外/可見(jiàn)波段有高精度測(cè)試要...
LAMBDA 1050+珀金埃爾默紫外-可見(jiàn)-近紅外分光光度計(jì)LAMBDA1050+分光光度計(jì)以其出色的波長(zhǎng)精度和廣泛的測(cè)試范圍(直至3300nm),成為行業(yè)標(biāo)...
珀金埃爾默 NexION 5000 多重四極桿ICP-MSNexION 5000是業(yè)界款多重四極桿ICP-MS,具備四組四極桿結(jié)構(gòu),提供的靈敏度和檢測(cè)限,顯著優(yōu)...
珀金埃爾默 PinAAcle D 900 原子吸收光譜儀PinAAcle D900是一款集火焰和石墨爐分析于一體的全自動(dòng)系統(tǒng),具備高度自動(dòng)化、智能化及安全性特點(diǎn)...
珀金埃爾默 LC 300 HPLC 超高效液相珀金埃爾默全新設(shè)計(jì)的LC 300 HPLC和UHPLC系統(tǒng),具有多種檢測(cè)器可選、超準(zhǔn)梯度、超低擴(kuò)散體積和全新的Si...
LAMBDA365+ 珀金埃爾默紫外/可見(jiàn)光譜儀LAMBDA 365+ UV/Vis是一款高性能的雙光束分光光度計(jì),具備0.5 nm至20 nm的可變光譜帶寬,...
珀金埃爾默 PerkinElmer GCMS 2400系統(tǒng)PerkinElmer GCMS 2400™氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用系統(tǒng)具備超高穩(wěn)定性和超低檢測(cè)限...
Avio 550/560 珀金埃爾默高性能電感耦合 等離子體發(fā)射光譜儀該設(shè)備采用平板等離子體技術(shù)和多項(xiàng)創(chuàng)新設(shè)計(jì),如免維護(hù)的垂直炬管和尾焰切除系統(tǒng),結(jié)合彩色等離子...
Avio® 550 Max 珀金埃爾默高性能電感耦合 等離子體發(fā)射光譜儀平板等離子體技術(shù) 更堅(jiān)實(shí)穩(wěn)定的 等離子炬 超低的氬氣消耗 免維護(hù) 免冷卻
珀金埃爾默熱重-紅外-氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用 TG-IR-GC/MS珀金埃爾默提供全面的聯(lián)用儀器解決方案,結(jié)合不同分析技術(shù)的優(yōu)勢(shì),以應(yīng)對(duì)復(fù)雜樣品的多維度檢測(cè)需求。從熱...
Applied Spectra應(yīng)用光譜J200激光剝蝕-激光光譜(LA-LIBS)平臺(tái)J200的三大類(lèi)產(chǎn)品:LA,LIBS,Tandem(LA-LIBS)激光源...
美國(guó)應(yīng)用光譜公司Applied Spectra激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng) 瑞索RESOlution SE/LRRESOlution擴(kuò)展功能:1,冷凍樣品池2,RESO-E...
Alphachron氦同位素全自動(dòng)萃取分析儀鈾氦熱年代學(xué)是一種靈敏且經(jīng)濟(jì)有效的放射性測(cè)年方法。這可用于確定地殼的熱歷史,在研究和經(jīng)濟(jì)地質(zhì)學(xué)中都有廣泛的應(yīng)用。這項(xiàng)...
U-Th-He雙定年系統(tǒng) RESOchron SE/LRRESOChron激光原位(U-Th)/He雙定年系統(tǒng)集成了RESOlution和Alphachron&...
Bruker布魯克臺(tái)式傅里葉變換核磁Fourier80布魯克Fourier80是新一代高性能80 MHz傅里葉變換核磁共振(FT-NMR)臺(tái)式譜儀,它的設(shè)計(jì)適用...
布魯克MINISPEC mqone NMR核磁共振波譜儀minispec mq 系列各個(gè)方面涵蓋當(dāng)今已知的測(cè)量頻率范圍,從用于大直徑樣品的 7.5 MHz 到 ...
The J105 SIMS飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀? 快速高分辨率2D和3D分子成像。? 所有樣品的質(zhì)量精度和質(zhì)量分辨率一致,與樣品高度無(wú)關(guān)。? 我們的專(zhuān)業(yè)技術(shù)W...
PHI X-tool 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀一束高能初級(jí)離子轟擊樣品表面激發(fā)出原子和分子碎片只一小部分激發(fā)出的粒子以離子的狀態(tài)離開(kāi)表面,被質(zhì)量分析器探測(cè)出來(lái)對(duì)于...
美國(guó)PHI 高性能飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀TOF-SIMS 中,根據(jù)分子結(jié)構(gòu)反映的質(zhì)譜,能更詳細(xì)的對(duì)化學(xué)結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析。
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