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WD4000系列晶圓厚度粗糙度微納三維形貌測(cè)量?jī)x器PX 5013
WD4000晶圓表面形貌檢測(cè)設(shè)備PX 5013
晶圓搬運(yùn)機(jī)loader含顯微鏡PX 0
BK-PA精密氣浮式減振器PX 0
ETNAHTRB/HTGB高溫高壓反偏測(cè)試系統(tǒng)PX 0
FPAOI-ss15000il電路板自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)AOI,PCBA光學(xué)jian測(cè)PX 4378
FPMIR-MV-93D自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),AOI光學(xué)jian測(cè)機(jī)PX 4378
FPVIS-S3088高速三維自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)AOI,焊點(diǎn)檢查PX 4378
FPVIS-X7056自動(dòng)X射線檢測(cè)系統(tǒng)AXI,X射線jian測(cè)機(jī)器PX 4378
FPPVA-SIRD晶圓殘余應(yīng)力測(cè)量系統(tǒng),晶圓應(yīng)力ce試PX 4378
FPCON-Waferinspect晶圓檢測(cè)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),AOI晶圓jian測(cè)PX 4378
薄膜生長(zhǎng)設(shè)備
工藝測(cè)量和檢測(cè)設(shè)備
集成電路測(cè)試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長(zhǎng)設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
日本ULVAC愛(ài)發(fā)科半導(dǎo)體灰化裝置NA系列
玻璃方阻測(cè)試儀
金屬薄膜方阻測(cè)試儀
氧化鎵電阻率方阻測(cè)試儀
晶圓電阻率測(cè)試儀
無(wú)損電阻率測(cè)試儀
自由曲面三維面型檢測(cè)儀
內(nèi)應(yīng)力檢測(cè)儀
-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈--備庫(kù)銷(xiāo)售
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
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